Микроанализатор рентгеновский энергодисперсионный в составе электронного микроскопа Noran System SIX (микроанализатор) JSM-5400 (микроскоп)

Современный рентгеновский микроанализатор Noran System SIX в составе электронного микроскопа JSM-5400: Точность и надежность для ваших исследований

Представляем вашему вниманию высокопроизводительный рентгеновский энергодисперсионный микроанализатор Noran System SIX, интегрированный в передовой электронный микроскоп JSM-5400. Эта мощная комбинация от ведущих мировых производителей Thermo Electron Corporation (США) и JEOL (Япония) открывает новые горизонты в анализе материалов, предоставляя исключительную точность и детализацию на микроуровне. Если вам необходимо провести детальное исследование элементного состава различных образцов, от металлов и сплавов до порошков и геологических пород, этот прибор станет вашим незаменимым помощником.

Ключевые возможности и преимущества

Микроанализатор Noran System SIX, работающий в составе электронного микроскопа JSM-5400, предназначен для точного определения массовых долей элементов в микрообъемах разнообразных материалов. Его уникальные характеристики позволяют проводить анализ объектов, устойчивых к вакуумным условиям, с высокой степенью детализации. * **Широкий диапазон анализируемых элементов:** От легких элементов, таких как углерод (С, атомный номер 6), до тяжелых, включая уран (U, атомный номер 92). * **Точное определение массовых долей:** Диапазон измерений от 0,2% до 100,0% обеспечивает полную картину элементного состава. * **Высокая чувствительность:** Благодаря сверхтонкому входному окну Norvar, прибор эффективно регистрирует даже легкие элементы. * **Универсальность применения:** Идеально подходит для исследования металлов, сплавов, порошков, стружек, геологических образцов и множества других материалов. * **Интегрированное решение:** Синергия микроанализатора и электронного микроскопа обеспечивает комплексный подход к анализу.

Принцип работы: Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ

В основе работы микроанализатора лежит принцип рентгеновского микроанализа. Высокоэнергетический электронный пучок, генерируемый электронной пушкой сканирующего электронного микроскопа JSM-5400 (с ускоряющим напряжением от 0,5 до 30 кВ), возбуждает атомы исследуемого образца. В ответ на это возбуждение атомы испускают характеристическое рентгеновское излучение. Энергодисперсионный метод позволяет одновременно регистрировать весь спектр рентгеновского излучения, что значительно ускоряет процесс анализа. Полупроводниковый Si-Li детектор, охлаждаемый жидким азотом, обеспечивает высокую точность регистрации и спектральное разрешение.

Расширенные аналитические возможности

Микроскоп JSM-5400, являющийся частью системы, предлагает широкий диапазон увеличений (от х35 до х30000) и позволяет анализировать образцы диаметром до 125 мм. Область анализа может варьироваться от нескольких квадратных микрометров до 12 квадратных миллиметров, что делает прибор идеальным для детального изучения микроструктур. * **Анализ в точке:** Точное определение элементного состава конкретной области образца. * **Линейное сканирование:** Исследование распределения элементов вдоль заданной линии. * **Площадное сканирование:** Построение карт распределения элементов по всей поверхности образца. Управление всеми процессами и обработка полученных данных осуществляются с помощью современного компьютера IBM PC и специализированного программного обеспечения. Система эффективно обрабатывает электрические импульсы, преобразуя их в цифровую форму для дальнейшего анализа и визуализации результатов.

Технические характеристики для профессионалов

* **Диапазон определяемых элементов:** от C (6) до U (92). * **Диапазон измерений массовых долей элементов:** 0,2–100,0 %. * **Спектральное разрешение:** Не более 135 эВ для линий Ka Mn (5,9 кэВ) и Fe (6,4 кэВ). * **Предел допускаемого значения относительной погрешности измерений:** Варьируется от 5,0% до 35,0% в зависимости от поддиапазона массовых долей. * **Нестабильность показаний за 5 часов непрерывной работы:** Не более 5,0 %. * **Время одного цикла измерений:** От 30 до 1800 секунд (зависит от элементного состава). * **Ускоряющее напряжение:** от 0,5 до 30 кВ. * **Условия эксплуатации:** Температура 20-25 °C, относительная влажность 20-80 %, атмосферное давление 84-106 кПа.

Безопасность и надежность

При разработке микроанализатора особое внимание уделено безопасности оператора. Мощность эквивалентной дозы рентгеновского излучения на безопасном расстоянии от прибора не превышает 3 мкЗв/ч, что соответствует строгим нормам.

Комплектность и поверка

Система поставляется в полной комплектации, включающей блок управления, полупроводниковый Si-Li детектор, сосуд Дьюара, управляющий компьютер с прикладной программой, комплект ЗИП и расходные материалы. **Поверка** прибора осуществляется в соответствии с утвержденной методикой МП 90-223-09. Межповерочный интервал составляет один год, что гарантирует стабильность и точность измерений. Мы предлагаем услуги по поверке и калибровке оборудования.

Заказать микроанализатор Noran System SIX

Если вам требуется высокоточное оборудование для элементного анализа, рассмотрите возможность **заказать** рентгеновский энергодисперсионный микроанализатор Noran System SIX в составе электронного микроскопа JSM-5400. Наши специалисты готовы предоставить полную консультацию по **метрологической характеристике** прибора, условиям **доставки** и актуальной **цене**. Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» является вашим надежным партнером в области лабораторного оборудования. Мы предлагаем комплексные решения для научных исследований и промышленных лабораторий. **Для получения подробной информации и консультации, пожалуйста, свяжитесь с нами:** Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru Наши эксперты помогут вам подобрать оптимальное решение, соответствующее вашим задачам, и обеспечат профессиональную поддержку на всех этапах.

[HYDRA_UPDATED]