Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Helios NanoLab 650: Ваш Инструмент для Прецизионных Исследований и Модификации на Микро- и Наноуровне

Откройте новые горизонты в материаловедении и нанотехнологиях с растровым электронно-ионным микроскопом Helios NanoLab 650. Этот передовой прибор сочетает в себе возможности высокоточных измерений линейных размеров элементов топографии микро- и нанорельефа твердотельных материалов с функцией локальной структурной модификации поверхности. Благодаря сфокусированному ионному пучку, Helios NanoLab 650 позволяет не только детально изучать образцы, но и целенаправленно изменять их структуру, открывая путь к созданию инновационных материалов и устройств.

Ключевые Возможности и Принцип Работы

Принцип действия Helios NanoLab 650 основан на сканировании поверхности объекта сфокусированным электронным или ионным зондом. Регистрируемые сигналы вторичных электронов модулируют яркость изображения на мониторе, позволяя визуализировать мельчайшие детали рельефа. Соотношение размера изображения на экране к реальному размеру растра на образце определяет степень увеличения, достигающую впечатляющих 4 000 000 крат. Этот микроскоп представляет собой полностью автоматизированную стационарную систему, разработанную на базе передовых технологий растровой электронной микроскопии и функционирующую в микро- и нанодиапазоне.

Состав Системы

Helios NanoLab 650 включает в себя:

• Электронно-оптическую систему (колонну): Обеспечивает формирование электронного зонда.
• Ионную колонну с галлиевым жидкометаллическим источником ионов: Позволяет работать с ионным пучком для модификации поверхности.
• Камеру образцов с прецизионным механизмом перемещения: Гарантирует точное позиционирование исследуемых материалов.
• Детектор вторичных электронов: Для получения высококачественных изображений.
• Современную вакуумную систему: Поддерживает оптимальные условия для работы.
• Видеоконтрольное устройство: Для визуализации и анализа данных.
• Блок электроники: Обеспечивает управление всеми функциями прибора.

Функционал Ионного Травления

Уникальная особенность Helios NanoLab 650 – возможность локального контролируемого травления поверхности сфокусированным ионным пучком. Режимы травления легко настраиваются путем изменения ускоряющего напряжения и тока ионного пучка. После модификации, параметры рельефа могут быть детально проанализированы в режиме растрового электронного микроскопа, обеспечивая полный цикл исследования и разработки.

Программное Обеспечение и Защита Данных

Управление микроскопом, сбор, обработка и сохранение изображений осуществляются с помощью интуитивно понятного специализированного программного обеспечения «FEI system control». ПО интегрировано с аппаратной частью прибора и не может быть использовано отдельно. Конструкция микроскопа гарантирует высокий уровень защиты от несанкционированного доступа к программному обеспечению и измерительной информации, соответствующий Р 50.2.077-2014.

Идентификационные Данные Программного Обеспечения

Метрологически значимая часть ПО защищена с помощью специальных средств, обеспечивающих высокий уровень защиты от преднамеренных и непреднамеренных изменений.

Идентификационные данные (признаки)	Значение
Идентификационное наименование ПО	FEI system control
Номер версии (идентификационный номер) ПО	5.4.2.3177
Цифровой идентификатор ПО	326b507c2af2a063091b5060bf18faf27a08664d289a1b240f9d3bf1e25c612c

Технические Характеристики

Основные метрологические и технические характеристики:

Наименование характеристики	Значение
Диапазон измерений линейных размеров элементов топологии, мкм	от 0,002 до 1000
Диапазон показаний линейных размеров, мкм	от 0,001 до 2000
Пределы допускаемой погрешности измерений линейных размеров элементов топологии (в диапазоне от 0,002 мкм до 0,1 мкм, нм)	±(1+0,04L)
Пределы допускаемой погрешности измерений линейных размеров элементов топологии (в диапазоне от 0,1 мкм до 2000 мкм, %)	±5
Диапазон регулирования увеличения, крат	От 100 до 4 000 000
Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 30 кВ, нм, не более	10
Разрешение при ускоряющем напряжении 30 кВ, нм, не более	0,8
Разрешение при ускоряющем напряжении 0,2 кВ, нм, не более	1,5
Потребляемая мощность, кВт, не более	3
Масса, кг, не более	950
Габаритные размеры (длина х ширина х высота) основных составных частей, мм, не более:
- консоль микроскопа с колонной	1250х1160х2000
- видеоконтрольный блок	1700x900x1300
- стойка питания микроскопа	800x600x2000
Условия эксплуатации:
- температура окружающего воздуха, °С	от +18 до +22
- атмосферное давление, кПа	от 84 до 104
- относительная влажность воздуха, %, не более	80
Напряжение питания от сети переменного тока частотой 50 Гц, В	от 200 до 240

Комплектность

При заказе микроскопа Helios NanoLab 650 вы получаете:

Наименование	Количество
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650	1 шт.
Руководство по эксплуатации	1 экз.

Поверка и Соответствие Стандартам

Поверка микроскопа осуществляется в соответствии с ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки». Основным средством поверки является мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К (рег. № 33598-06). Допускается использование аналогичных средств поверки, гарантирующих требуемую точность определения метрологических характеристик. Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

Заказать Helios NanoLab 650

Мы предлагаем выгодные условия на заказ растрового электронно-ионного микроскопа Helios NanoLab 650. Осуществляем оперативную доставку по всей России. Для уточнения цены и получения подробной консультации по метрологической характеристике прибора, пожалуйста, свяжитесь с нами. «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» — ваш надежный партнер в мире современного лабораторного оборудования. Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru Свяжитесь с нами сегодня, чтобы обсудить ваши задачи и подобрать оптимальное решение для ваших исследований!

[HYDRA_UPDATED]