Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500: Точность и Инновации для Ваших Исследований

Представляем вам передовой электронно-ионный растровый микроскоп JIB-4500 — мощный инструмент, открывающий новые горизонты в исследовании микро- и наномира. Этот прибор создан для высокоточных измерений линейных размеров элементов топографии поверхности твердотельных материалов, а также для проведения прецизионной локальной модификации поверхностей с помощью ионного пучка. Если ваша работа связана с микроэлектроникой, материаловедением, нанотехнологиями или другими наукоемкими областями, JIB-4500 станет незаменимым помощником, обеспечивая беспрецедентную детализацию и функциональность.

Ключевые Возможности и Преимущества JIB-4500

Микроскоп JIB-4500 — это не просто измерительный прибор, а комплексная автоматизированная система, сочетающая в себе возможности растровой электронной микроскопии и ионной литографии. Его уникальная архитектура позволяет:

• Проводить высокоточные измерения: Определяйте линейные размеры элементов топографии с микро- и нанометровой точностью, что критически важно для контроля качества и разработки новых материалов.
• Осуществлять локальную модификацию поверхности: Сфокусированный ионный пучок позволяет выполнять прецизионное травление, удаление материала или нанесение модификаций с высокой степенью контроля.
• Анализировать структуру материалов: Получайте детальные изображения поверхности, раскрывая мельчайшие особенности рельефа и структуры.
• Работать в широком диапазоне размеров: Диапазон измерений простирается от 0,1 до 1000 мкм, охватывая как микро-, так и нанообъекты.

Конструктивные Особенности и Принцип Работы

Стационарная автоматизированная система JIB-4500 построена на базе передовых технологий и включает в себя:

• Электронно-оптическую колонну: Обеспечивает формирование электронного зонда для получения изображений и проведения анализов.
• Ионную колонну с галлиевым источником: Позволяет генерировать сфокусированный ионный пучок для модификации поверхности.
• Камеру образцов с прецизионным перемещением: Гарантирует точное позиционирование исследуемых образцов.
• Детектор вторичных электронов: Собирает сигналы для формирования изображения высокого разрешения.
• Современную вакуумную систему: Включает турбомолекулярный, форвакуумный и гетероионный насосы для поддержания оптимального вакуума в рабочей камере и области ионной пушки.
• Интуитивно понятное видеоконтрольное устройство: Отображает изображение с высокой детализацией.

Принцип получения изображения основан на сканировании поверхности сфокусированным электронным или ионным зондом и регистрации вторичных электронов. Яркость изображения на мониторе модулируется в соответствии с интенсивностью регистрируемого сигнала, что позволяет получать детализированную картину рельефа. Увеличение микроскопа определяется соотношением размера изображения на мониторе и размера растра на образце.

Инновационные Функции Модификации Поверхности

Одной из ключевых особенностей JIB-4500 является возможность проведения локальной модификации поверхности с помощью ионного пучка. Регулируя ускоряющее напряжение и ток ионного пучка, вы можете точно контролировать процесс травления, создавая необходимые структуры и рельефы. После модификации, в режиме растрового электронного микроскопа, вы можете проводить точный контроль параметров рельефа и измерять линейные размеры полученных элементов.

Программное Обеспечение и Управление

Управление микроскопом осуществляется через встроенный контроллер и внешнюю ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения "Multi Beam System Control Program". ПО обеспечивает полный контроль над процессом измерений, обработки результатов и модификации поверхности. Уровень защиты программного обеспечения соответствует требованиям МИ 3286-2010 (уровень «С»), гарантируя надежность и безопасность данных.

Технические Характеристики JIB-4500

Метрологические характеристики:

• Диапазон измерений линейных размеров: от 0,1 до 1000 мкм.
• Пределы допускаемой относительной погрешности измерений:
  • ±11% в диапазоне от 0,1 до 0,2 мкм
  • ±7% в диапазоне от 0,2 до 0,4 мкм
  • ±5% в диапазоне от 0,4 до 1000 мкм
• Эффективный диаметр электронного зонда (при 30 кВ, кремний): не более 25 нм.
• Разрешение (при возбуждении электронным пучком, 30 кВ): 2,5 нм.

Общие технические характеристики:

• Напряжение питания: 220+22-33 В (50±1 Гц).
• Потребляемая мощность: 4,7 кВА.
• Масса: 1000 кг.
• Габаритные размеры (ДхШхВ): 1820х1100х1700 мм.
• Рабочие условия: температура 20±5 °С, относительная влажность до 95%, атмосферное давление 84-107 кПа.

Поверка и Комплектность

Поверка микроскопа JIB-4500 осуществляется в соответствии с ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки» с использованием специальной меры ширины и периода МШПС-2.0К.

В комплект поставки входят:

• Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500.
• Комплект запасных частей, инструментов и принадлежностей (ЗИП).
• Расходные материалы.
• Техническая документация от производителя.

Заказ и Доставка

Заказать электронно-ионный растровый микроскоп JIB-4500 можно в компании «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ». Мы предлагаем выгодные условия, профессиональную консультацию и оперативную доставку по всей России. Уточните актуальную цену и сроки поставки у наших менеджеров.

Контактная информация:

Телефон: 8 (800) 511-77-51

E-mail: info@labcsm.ru

Свяжитесь с нами сегодня, чтобы получить экспертную консультацию по микроскопу JIB-4500 и подобрать оптимальное решение для ваших задач!

[HYDRA_UPDATED]