Микроскоп электронно-ионный растровый Scios

Scios: Ваш Ключ к Наномира — Высокоточное Измерение и Модификация Поверхностей

Откройте новые горизонты исследований с электронно-ионным растровым микроскопом Scios — передовым решением для точного измерения линейных размеров микрорельефа твердотельных материалов и структур. Этот мощный инструмент не только позволяет детально изучать наномир, но и открывает возможности для локальной структурной модификации поверхности объектов с помощью сфокусированного ионного пучка. Если вам требуется высочайшая точность и гибкость в работе с микро- и нанообъектами, Scios станет незаменимым помощником в вашей лаборатории.

Принцип Работы и Конструктивные Особенности

Принцип формирования изображения в Scios основан на сканировании поверхности объекта сфокусированным электронным или ионным зондом. Яркость изображения на мониторе напрямую зависит от количества зарегистрированных вторичных электронов, что обеспечивает высокую детализацию и контрастность. Увеличение микроскопа определяется соотношением размеров изображения на экране и растра на образце. Scios представляет собой стационарную, полностью автоматизированную измерительную систему, построенную на базе растрового электронного микроскопа. Его конструкция включает:

• Электронно-оптическую и ионную колонны: Оснащены галлиевым жидкометаллическим источником ионов с высокой плотностью тока, обеспечивающим прецизионную работу.
• Камеру для образцов: С удобным механизмом перемещения и наклона для оптимального позиционирования.
• Детекторы: Детектор вторичных электронов и подлинзовый концентрический детектор обратноотраженных электронов для всестороннего анализа.
• Вакуумную систему: Для поддержания стабильных условий работы.
• Видеоконтрольное устройство и блок электроники: Для управления и отображения данных.

Инновационные Технологии для Максимальной Эффективности

Scios воплощает в себе передовые технологии, гарантирующие исключительные результаты:

• Двулучевая технология сверхвысокого разрешения: Позволяет проводить детальный 2D и 3D анализ широкого спектра образцов, включая магнитные материалы.
• Внутрилинзовое детектирование: Обеспечивает сбор максимального объема данных с высокой контрастностью благодаря одновременному использованию сигналов энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии.
• Интеллектуальная система управления пучком: Автоэмиссионная пушка Шоттки с полевой эмиссией и автоматизированная регулировка положения, нагреваемые апертуры и непрерывное управление током пучка минимизируют ручные настройки и повышают стабильность.
• Функции ионной модификации: Ионная колонна с высокой плотностью тока позволяет проводить локальное контролируемое травление поверхности для подготовки образцов. Режимы травления легко регулируются изменением ускоряющего напряжения и тока ионного пучка.

Точность и Надежность Измерений

Метрологические характеристики Scios подтверждают его статус высокоточного измерительного прибора:

• Пространственное разрешение (электроны): Не более 1 нм при 30 кВ.
• Диапазон измерений линейных размеров: От 1 до 1000 мкм.
• Пределы допускаемой относительной погрешности: ±5 %.

Программное Обеспечение и Управление

Управление микроскопом осуществляется через специализированное программное обеспечение «xT Microscope Server», работающее на внешней ПЭВМ. ПО обеспечивает полную интеграцию и защиту измерительной информации, исключая несанкционированное вмешательство.

Технические Характеристики

* Источник электронов: Полевой катод Шоттки. * **Диапазон тока пучка автоэмиссионной пушки Шоттки:** от 0,001 до 400 нА. * **Диапазон тока пучка ионов галлия:** от 0,0006 до 65 нА. * **Разрешение (ионы):** Не более 5 нм. * **Диапазон ускоряющего напряжения:** от 0,35 до 30 кВ (электроны), от 0,5 до 30 кВ (ионы). * **Диапазон энергий электронов у поверхности образца:** от 0,02 до 30 кэВ. * **Ширина камеры:** не более 379 мм. * **Аналитическое рабочее расстояние:** 7 мм. * **Потребляемая мощность:** не более 3,5 кВт. * **Условия эксплуатации:** Температура от +17 до +23 °С, относительная влажность не более 50 %.

Поверка и Комплектность

Микроскоп Scios поставляется с полным комплектом документов, включая руководство по эксплуатации и методику поверки. Поверка осуществляется в соответствии с документом МП 78941-20. Основные средства поверки включают специализированные меры ширины и периода, а также концевые плоскопараллельные меры длины. Знак утверждения типа и знак поверки наносятся на лицевую панель прибора и сопроводительную документацию.

Заказать Микроскоп Scios

Если вас интересует **цена** на микроскоп электронно-ионный растровый Scios, а также условия **доставки** и **поверки**, свяжитесь с нами. Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» предлагает выгодные условия и профессиональную поддержку. Мы поможем вам подобрать оптимальное решение для ваших задач. Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru Не упустите возможность оснастить свою лабораторию передовым оборудованием. Свяжитесь с нашими специалистами для получения подробной консультации и индивидуального предложения.

[HYDRA_UPDATED]