Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих металлов и сплавов, композиционных и полимерных материалов, порошков, микрокристаллов, локального микрорентгеноспектрального анализа, определения параметров кристаллических решеток.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Просвечивающий электронный микроскоп JEM 200CX: Ваш ключ к микромиру
Откройте для себя мир мельчайших деталей с просвечивающим электронным микроскопом JEM 200CX — передовым инструментом для глубокого анализа структуры и состава материалов. Этот прибор, разработанный для самых требовательных исследовательских и производственных задач, позволяет проводить высокоточные измерения и исследования в области материаловедения, металлургии, полимерной химии и нанотехнологий. Если вам необходима детальная информация о фазовых и структурных составляющих металлов, сплавов, композитов, полимеров, порошков или микрокристаллов, JEM 200CX станет вашим незаменимым помощником.Функциональные возможности и принцип работы
Принцип действия JEM 200CX основан на использовании электронного пучка, длина волны которого значительно короче, чем у видимого света. Это позволяет достигать беспрецедентного уровня детализации и разрешения. Основные компоненты микроскопа включают:- Вакуумная система: Обеспечивает стабильные условия для работы электронного пучка.
- Источник электронов: Генерирует электронный луч высокой интенсивности.
- Высоковольтный источник: Ускоряет электроны до требуемой энергии.
- Электромагнитные линзы и электростатические пластины: Позволяют точно управлять траекторией и фокусировкой электронного пучка.
- Экран: Отображает увеличенное электронное изображение исследуемого образца.
- Энергодисперсионный детектор INCA Energy TEM-250: Интегрированное решение для локального микрорентгеноспектрального анализа, позволяющее определять элементный состав с высокой точностью и детализацией.
Интеллектуальное программное обеспечение для точного анализа
Управление микроскопом и обработка данных осуществляются через персональный компьютер с помощью специализированного программного обеспечения.- Digital Micrograph: Мощный инструмент для обработки и анализа получаемых изображений, обеспечивающий гибкость в интерпретации результатов.
- INCA Energy TEM-250: Программное обеспечение для точного накопления спектра с выбранного участка образца, позволяющее строить карты распределения химических элементов.
Ключевые метрологические характеристики
Микроскоп JEM 200CX обладает выдающимися метрологическими характеристиками, обеспечивающими высокую точность измерений:- Разрешающая способность: 0,5 нм (при ускоряющем напряжении 160 кВ).
- Разрешение локального микрорентгеноспектрального анализа: 20 нм.
- Диапазон измерений геометрических расстояний: от 0,05 до 10 мкм.
- Пределы допускаемой основной относительной погрешности измерения геометрических расстояний: ±0,1% (при ускоряющем напряжении 160 кВ).
- Диапазон регулировки ускоряющего напряжения: 80 - 200 кВ.
- Увеличение: от 600 до 330 000 крат.
Комплектность и поверка
Прибор поставляется в полной комплектации, готовой к работе, включая все необходимые блоки питания, насосы и компрессоры.- Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX
- Блок питания
- Высоковольтный блок
- Форвакуумный насос
- Воздушный компрессор
- Руководство по эксплуатации
- Методика поверки № МП 66.Д4-11
Применение и соответствие стандартам
JEM 200CX идеально подходит для работ по оценке соответствия промышленной продукции и других объектов законодательным требованиям Российской Федерации. Техническая документация разработана компанией JEOL Ltd (Япония).Заказать микроскоп JEM 200CX
Если вы заинтересованы в приобретении просвечивающего электронного микроскопа JEM 200CX, компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» готова предложить выгодные условия. Мы предоставляем полный спектр услуг, включая консультации, помощь в подборе оборудования, а также оперативную доставку по всей России. Узнайте актуальную цену и условия приобретения, связавшись с нами. Для получения подробной консультации по техническим характеристикам, метрологическим аспектам или для оформления заказа, пожалуйста, свяжитесь с нашими специалистами: Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru Мы будем рады помочь вам в выборе оптимального решения для ваших задач!Счёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
