Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100F: Ваш ключ к микромиру

Откройте для себя мир мельчайших деталей с просвечивающим электронным микроскопом JEM-2100F – передовым решением для точных измерений и глубокого анализа микро- и наноструктур. Этот высокопроизводительный прибор станет незаменимым инструментом в арсенале исследователей и инженеров, работающих в самых требовательных областях науки и техники.

Превосходство в деталях: Назначение и области применения

JEM-2100F создан для решения комплексных задач:

• Прецизионные измерения: Точное определение линейных размеров структур, видимых на электронно-оптических изображениях.
• Глубокий анализ: Исследование микро- и наноструктуры материалов с беспрецедентной детализацией.

Сфера применения микроскопа охватывает такие ключевые направления, как:

• Материаловедение
• Микроэлектроника
• Геология
• Биология
• Металлургия
• И многие другие передовые отрасли науки и техники.

Инновационная конструкция для максимальной эффективности

JEM-2100F – это не просто микроскоп, а полностью автоматизированная стационарная измерительная система, разработанная для обеспечения максимальной производительности и удобства пользователя. В его состав входят:

• Электронно-оптическая колонна: Сердце прибора, включающее электронную пушку и три блока электронных линз (осветительный, формирующий изображение и проекционный) для точной фокусировки и формирования изображения.
• Режим растрового просвечивающего электронного микроскопа: Расширенные возможности анализа благодаря специальной приставке.
• Высокочувствительные детекторы: Светлопольный и темнопольный детекторы для получения разнообразной информации об образце.
• Эргономичная главная консоль: Интегрированный рабочий стол с блоками управления и электронно-оптической колонной для комфортной работы.
• Надежная вакуумная система: Обеспечивает оптимальные условия для работы электронного пучка.
• Стабилизированный источник высокого напряжения: Гарантирует стабильность параметров ускоряющего напряжения.
• Система управления: Компрессор сжатого воздуха для пневмоклапанов и специализированная рабочая станция на базе компьютера.
• Современное программное обеспечение: Интуитивно понятное управление всеми функциями микроскопа.
• Система охлаждения: Замкнутая водяная система для поддержания оптимальной температуры компонентов.
• Комплектация: Полный комплект запчастей и расходных материалов для бесперебойной работы.

Принцип работы: Раскрывая тайны материи

В основе работы JEM-2100F лежит взаимодействие ускоренных электронов с исследуемым образцом. Электроны, испускаемые катодом, формируют сфокусированный пучок, который проходит через объект. Взаимодействие электронов с атомами вещества приводит к их рассеянию, причем степень рассеяния зависит от неоднородности структуры и состава образца. Это позволяет формировать детальное изображение объекта и получать дифракционные картины, раскрывающие информацию о кристаллической структуре.

Технические характеристики: Превосходство в цифрах

JEM-2100F обладает выдающимися техническими параметрами, обеспечивающими высочайшую точность и производительность:

• Диапазон увеличения: от 50 до 500 000 крат.
• Ускоряющее напряжение: 160-200 кВ.
• Диапазон измерений линейных размеров: от 0,001 до 50 мкм.
• Пределы относительной погрешности измерений: не более 1% (уточняется по запросу).
• Напряжение питания: 220 В (+10/-15%).
• Габаритные размеры: 2300x1850x2650 мм.
• Общая масса: (уточняется по запросу).

Условия эксплуатации:

• Температура окружающего воздуха: 20 °C.
• Относительная влажность воздуха: не более (уточняется по запросу).
• Уровень вибрации: не более (уточняется по запросу).
• Уровень электромагнитных наводок: не более (уточняется по запросу).

Метрологическое обеспечение и поверка

Микроскоп JEM-2100F имеет утвержденный тип и соответствует всем необходимым метрологическим характеристикам. Каждый прибор проходит тщательную **поверку** в соответствии с утвержденной методикой. Для калибровки используются аттестованные образцы поликристаллического золота, что гарантирует высокую точность измерений. Межповерочный интервал составляет 1 год.

Нормативные документы:

• ГОСТ 12997-84
• ГОСТ Р 51350-99
• Основные санитарные правила обеспечения радиационной безопасности (ОСПОРБ-99)
• Техническая документация JEOL (Япония)

Комплектность поставки

При заказе микроскопа JEM-2100F вы получаете полный комплект, готовый к работе:

• Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F
• Комплект ЗИП и расходных материалов
• Руководство по эксплуатации
• Методика поверки

Почему стоит выбрать «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ»?

Мы предлагаем не только передовое лабораторное оборудование, но и комплексные решения для вашего бизнеса. Приобретая JEM-2100F у нас, вы получаете:

• Выгодную цену: Мы стремимся предложить лучшие условия на рынке.
• Профессиональную консультацию: Наши эксперты помогут подобрать оптимальное решение.
• Надежную доставку: Мы обеспечиваем безопасную и своевременную **доставку** по всей стране.
• Гарантийное и постгарантийное обслуживание.

Готовы к новым открытиям?

Не упустите возможность вывести ваши исследования на новый уровень. Свяжитесь с нами, чтобы узнать актуальную **цену**, обсудить условия **поставки** и получить индивидуальное предложение. Команда «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» всегда готова помочь вам с выбором и ответить на любые вопросы.

Телефон: 8 (800) 511-77-51

E-mail: info@labcsm.ru

[HYDRA_UPDATED]