Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
JEM-2100: Ваш Проводник в Мир Наноструктур и Элементного Анализа
Откройте для себя безграничные возможности исследования микро- и наномира с просвечивающим электронным микроскопом JEM-2100. Этот передовой прибор, оснащенный мощными аналитическими модулями, станет незаменимым инструментом для точного измерения геометрических параметров, детального анализа кристаллической структуры и определения элементного состава самых сложных образцов. От ультратонких биологических срезов до наночастиц — JEM-2100 раскроет их тайны с беспрецедентной точностью.Ключевые Преимущества JEM-2100:
* Многогранность исследований: Идеален для материаловедения, биологии, медицины, а также для оценки биобезопасности продукции наноиндустрии. * Высокая детализация: Позволяет исследовать объекты с разрешением, недоступным для оптических микроскопов. * Комплексный анализ: Сочетает в себе возможности электронной дифракции для изучения кристаллической структуры и энергодисперсионной спектроскопии (EDS) / спектроскопии потерь энергии электронов (EELS) для элементного анализа. * Точность измерений: Обеспечивает надежные данные о размерах и расстояниях в микро- и нанообъектах.Принцип Работы и Аналитические Возможности
JEM-2100 использует пучок электронов с энергией до 200 кэВ для просвечивания ультратонких образцов. Система магнитных линз формирует высококачественное электронно-микроскопическое изображение, где контраст определяется атомной массой и кристаллической ориентацией исследуемого материала. Электронная дифракция позволяет: * Определить наличие и тип кристаллической структуры. * Рассчитать межплоскостные расстояния в микрокристаллах. Аналитические модули (EDS и EELS) обеспечивают: * Локальный элементный анализ с высокой точностью. * Определение химического состава участков образца размером до 25 нм.Области Применения
Этот универсальный микроскоп находит широкое применение в: * Материаловедении: Исследование структуры сплавов, керамики, полимеров, наноматериалов. * Биологических и медицинских исследованиях: Анализ ультраструктуры клеток, тканей, вирусов. * Нанотехнологиях: Контроль качества наночастиц, разработка новых наноматериалов. * Оценке биобезопасности: Исследование потенциального воздействия нанопродукции на живые организмы.Технические Характеристики
* Диапазон измерений геометрических расстояний: от 0.00004 до 100 мкм. * Пределы допускаемой погрешности: ± 3% (1-100 мкм), ± 7% (0.05-1 мкм), ± (2+0.07L) нм (4x10⁻⁴ - 0.05 мкм). * Диапазон регулировки увеличения: от 50 до 1 500 000 крат. * Анализируемые химические элементы: От B до Pu. * Локальность элементного анализа: 25 нм. * Ускоряющее напряжение: от 80 до 200 кВ. * Питание: 230±30 В (однофазное). * Максимальная потребляемая мощность: 10 кВ•А.Программное Обеспечение и Защита Данных
Микроскоп JEM-2100 поставляется со специализированным программным обеспечением, обеспечивающим полный контроль над прибором и обработку данных. Уровень защиты программного обеспечения соответствует МИ 3286-2010 (уровень «С»), гарантируя целостность и достоверность результатов.Поверка и Метрологическая Характеристика
Поверка микроскопа осуществляется согласно методике МП 48091-11, утвержденной ФГУП «ВНИИМС». Основным средством поверки является рельефная мера длины МПУ278нм с шагом периодической структуры 0,278 мкм и погрешностью ± 0,002 мкм. Это гарантирует соответствие прибора заявленным метрологическим характеристикам.Комплектность Поставки
При заказе JEM-2100 вы получаете: * Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100 – 1 экз. * Комплект ЗИП и расходные материалы – 1 компл. * Руководство по эксплуатации – 1 шт. * Методика поверки – 1 экз.Заказать JEM-2100 с Доставкой
«ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» предлагает вам **заказать** просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 с аналитическими модулями. Мы обеспечиваем оперативную **доставку** по всей России и предоставляем полный пакет документов, включая методику поверки. Уточните **цену** и условия поставки, связавшись с нашими специалистами. Для получения подробной консультации по микроскопу JEM-2100, его возможностям и условиям приобретения, пожалуйста, свяжитесь с нами: Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ruСчёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
