Микроскоп электронный растровый c системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов Nova NanoSEM 450

Nova NanoSEM 450: Революционный Сканирующий Электронный Микроскоп для Глубокого Анализа Материалов

Nova NanoSEM 450 – это передовой сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), разработанный для решения самых сложных задач в области материаловедения, нанотехнологий, полупроводниковой промышленности и научных исследований. Этот универсальный прибор объединяет в себе высокоточное формирование изображения с мощными аналитическими возможностями, предоставляя исследователям беспрецедентный уровень детализации и информации о структуре и составе образцов. Благодаря интегрированным системам энергодисперсионного (ЭДС) и волново-дисперсионного (ВДС) рентгеновского микроанализа, а также системе анализа дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ), Nova NanoSEM 450 становится незаменимым инструментом для всестороннего изучения микро- и нанообъектов.

Ключевые Возможности и Преимущества

Nova NanoSEM 450 спроектирован для обеспечения максимальной производительности и гибкости в лабораторных условиях. Стационарная конструкция включает в себя высокопроизводительную электронно-оптическую колонну, герметичную камеру для образцов, надежную вакуумную систему и интуитивно понятный управляющий компьютер.

• Высокоточное Измерение Размеров: Прибор позволяет проводить точные измерения линейных размеров структур с разрешением до 1.0 нм при ускоряющем напряжении 15 кВ, что критически важно для контроля качества и разработки нанокомпонентов.
• Комплексный Химический Анализ: Интегрированные системы ЭДС и ВДС обеспечивают детальный элементный анализ микрообъемов вещества в диапазоне от бериллия до америция. ЭДС спектрометр с кремниевым дрейфовым детектором (пелтье-охлаждаемый) гарантирует быстрое получение спектров, в то время как ВДС-спектрометр с шестью кристаллами-анализаторами предоставляет более высокое энергетическое разрешение и избирательность.
• Структурный Анализ с ДОРЭ: Система анализа дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ) позволяет определять кристаллические фазы, текстуру и ориентацию кристаллитов, что открывает новые горизонты в исследовании микроструктуры материалов.
• Гибкие Режимы Вакуумирования: Автоматизированная вакуумная система поддерживает как режим высокого вакуума для достижения максимального пространственного разрешения, так и режим низкого вакуума, позволяющий исследовать непроводящие и влажные образцы без специальной подготовки.
• Превосходное Качество Изображения: Использование катода с эмиссией Шоттки и системы замедления первичных электронов обеспечивает получение изображений с ультравысоким разрешением в широком диапазоне энергий электронов (от 20 эВ до 30 кэВ). Разнообразие детекторов (вторичных и обратно-рассеянных электронов) позволяет получать контрастные изображения с различной информацией о поверхности образца.
• Удобное Управление и Анализ: Интуитивно понятное программное обеспечение «xT microscope Server» обеспечивает полный контроль над прибором, составление измерительных программ и обработку полученных данных. ПО имеет высокий уровень защиты от преднамеренных изменений, гарантируя надежность метрологических характеристик.
• Безопасность Оператора: Прибор соответствует строгим стандартам безопасности, минимизируя уровень рентгеновского излучения для оператора.

Технические Характеристики и Метрологические Возможности

Nova NanoSEM 450 обладает выдающимися метрологическими характеристиками, что делает его идеальным выбором для лабораторий, где требуется высокая точность и воспроизводимость результатов.

Основные Метрологические и Технические Параметры:

• Диапазон Измерений Линейных Размеров: от 10 нм до 10⁶ нм (при 15 кэВ).
• Пределы Допускаемой Относительной Погрешности Измерений Линейных Размеров: ±7% (при 15 кэВ).
• Пространственное Разрешение: не более 1.6 нм (при 1 кВ), не более 1.0 нм (при 15 кВ).
• Энергетическое Разрешение ЭДС: не более 124 эВ (на линии Mn Kα).
• Энергетическое Разрешение ВДС: не более 4.6 эВ (на линии Si Kα).
• Диапазон Энергий Первичных Электронов: от 20 эВ до 30 кэВ.
• Диапазон Токов Электронного Зонда: от 6 x 10^-13 А до 2 x 10^-7 А.

Комплектность и Поверка

При поставке Nova NanoSEM 450 от компании «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» вы получаете полный комплект, включающий:

• Микроскоп электронный сканирующий Nova NanoSEM 450 (FEI, Чешская Республика).
• Интегрированная система энергодисперсионного микроанализа Quantax 400 (Bruker Nano GmbH, Германия).
• Интегрированная система микроанализа с дисперсией по длине волны XS100-6S-36 (Bruker Nano GmbH, Германия).
• Интегрированная система анализа дифракции обратно рассеянных электронов Crystaline 400 (Bruker Nano GmbH, Германия).
• Полный комплект эксплуатационной документации.
• Комплект запасных частей.

Поверка прибора осуществляется в соответствии с утвержденной методикой МП 67009-17, с использованием поверочных средств, обеспечивающих высокую точность определения метрологических характеристик. Знак утверждения типа наносится на прибор и документацию.

Заказать Nova NanoSEM 450

Если вам необходим передовой инструмент для глубокого анализа материалов с высочайшей точностью и широким спектром аналитических возможностей, Nova NanoSEM 450 – ваш выбор. Мы предлагаем выгодные условия на заказ данного оборудования, включая профессиональную доставку и установку. Уточните актуальную цену и условия приобретения, связавшись с нашими специалистами.

Для получения подробной консультации по техническим характеристикам, метрологическим возможностям и условиям поставки Nova NanoSEM 450, пожалуйста, свяжитесь с нами:

Телефон: 8 (800) 511-77-51

E-mail: info@labcsm.ru

[HYDRA_UPDATED]