Микроскоп электронный растровый JSM-6460LV
Микроскоп электронный растровый JSM-6460LV (далее ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных объектов и структур, в том числе диэлектрических.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV: Точность и детализация для ваших исследований
Откройте новые горизонты в исследовании микромира с растровым электронным микроскопом JSM-6460LV от JEOL. Этот мощный инструмент предназначен для высокоточного анализа микрорельефа поверхности твердотельных объектов и структур, включая диэлектрические материалы. Если вам требуется детальное изучение наноматериалов, полупроводниковых устройств или тонких пленок, JSM-6460LV станет вашим надежным помощником, обеспечивая беспрецедентную четкость и измерительную точность.Ключевые возможности и преимущества
JSM-6460LV — это не просто микроскоп, а комплексная автоматизированная система, разработанная для максимальной эффективности и удобства пользователя. * **Многофункциональность:** Прибор объединяет в себе электронно-оптическую систему, камеру для образцов с прецизионным механизмом перемещения, детекторы вторичных и отраженных электронов, а также надежную вакуумную систему. * **Интуитивное управление:** Управление осуществляется посредством встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения. Это обеспечивает гибкость и легкость настройки параметров исследования. * **Высокое разрешение:** Принцип формирования изображения основан на сканировании поверхности сфокусированным электронным зондом и регистрации вторичных электронов. Модуляция яркости монитора пропорционально количеству зарегистрированных электронов позволяет получать детализированные изображения с высоким разрешением. * **Широкий диапазон увеличений:** Возможность регулировки увеличения от 8х до 300 000х позволяет исследовать как макроскопические особенности, так и мельчайшие наноструктуры. * **Точные измерения:** Диапазон измерений линейных размеров от 0,15 до 5000 мкм с высокой точностью (пределы допускаемой относительной погрешности от ±5% до ±11% в зависимости от диапазона) делает JSM-6460LV незаменимым для метрологических задач. * **Безопасность оператора:** Прибор разработан с учетом требований безопасности, обеспечивая минимальный уровень рентгеновского излучения (не более 1 мкЗв/ч на расстоянии 10 см от поверхности колонны и камеры объектов при максимальных параметрах).Технические характеристики, определяющие превосходство
* **Эффективный диаметр электронного зонда:** Не более 30 нм при 30 кВ (на кремниевом образце). * **Диапазон ускоряющего напряжения:** От 0,3 до 30 кВ. * **Питание:** Сеть переменного тока 220 В (+22/-33 В), 50 Гц. * **Потребляемая мощность:** 3 кВА. * **Габаритные размеры:** * Стенд с колонной, вакуумным агрегатом, ВКУ: 750х960х1480 мм. * Видеоконтрольный блок: 1150х900х700 мм. * **Масса:** 600 кг. * **Условия эксплуатации:** * Температура окружающей среды: 20 ± 5 °С. * Относительная влажность воздуха: не более 60%. * Атмосферное давление: 84-107 кПа.Программное обеспечение и защита данных
Управление микроскопом осуществляется с помощью передового программного обеспечения, обеспечивающего полный контроль над процессом измерений и обработкой результатов. Уровень защиты ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010, гарантируя целостность и достоверность ваших данных.Поверка и соответствие стандартам
Микроскоп JSM-6460LV подлежит поверке в соответствии с ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки». В качестве средства поверки используется специальная мера ширины и периода МШПС-2.0К. Метрологическая характеристика прибора подтверждена соответствующими документами.Комплектность поставки
При заказе микроскопа JSM-6460LV вы получаете полный комплект, включающий: * Микроскоп электронный растровый JSM-6460LV. * Комплект запасных частей, инструментов и принадлежностей (ЗИП). * Расходные материалы. * Техническую документацию от производителя.Где заказать и узнать цену?
«ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» предлагает растровый электронный микроскоп JSM-6460LV с гарантией качества и профессиональной поддержкой. Мы обеспечиваем оперативную доставку по всей России. Чтобы узнать актуальную цену и условия приобретения, пожалуйста, свяжитесь с нами.Свяжитесь с нами для консультации
Если у вас возникли вопросы по техническим характеристикам, условиям эксплуатации, поверке или вам нужна помощь в подборе оборудования, наши специалисты готовы предоставить исчерпывающую консультацию. Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ruСчёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
