Микроскоп электронный растровый Philips XL 40

Раскройте мир наноструктур с помощью растрового электронного микроскопа Philips XL 40

Растровый электронный микроскоп Philips XL 40 — это передовое решение для исследователей и инженеров, стремящихся к глубокому пониманию микро- и наномира. Этот мощный инструмент открывает беспрецедентные возможности для детального изучения твердотельных образцов, включая самые сложные наноструктурированные материалы и нанообъекты. Если вам необходим точный количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности, Philips XL 40 станет вашим незаменимым помощником.

Применение данного микроскопа охватывает широкий спектр дисциплин: от передовых исследований в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях до фундаментальных изысканий в геологии, биологии и медицине. Он также является ценным инструментом в металлургии и незаменим для лабораторий промышленных предприятий, научно-исследовательских институтов и образовательных учреждений.

Ключевые возможности и конструкция

Philips XL 40 представляет собой высокоавтоматизированную стационарную измерительную систему, спроектированную для работы с объектами микро- и наноразмеров. Его конструкция включает в себя:

• Электронно-оптическую систему (колонну): сердце микроскопа, отвечающее за формирование и управление электронным пучком.
• Камеру образцов с прецизионным механизмом перемещения: обеспечивает точное позиционирование исследуемого материала.
• Детектор вторичных электронов: регистрирует сигналы, необходимые для формирования изображения.
• Эффективную вакуумную систему: состоящую из диффузионного, форвакуумного и гетероионного насосов, гарантирующую оптимальные условия для работы электронного пучка и катодного узла.
• Современное видеоконтрольное устройство: для визуализации и анализа получаемых изображений.
• Надежный блок электроники: управляющий всеми функциями прибора.

Принцип формирования изображения основан на сканировании поверхности объекта сфокусированным электронным зондом. Яркость изображения на мониторе модулируется в соответствии с интенсивностью сигналов от детектированных вторичных электронов. Увеличение микроскопа определяется соотношением размеров изображения на экране и растра на образце, что позволяет достигать впечатляющих показателей увеличения до 200 000 крат.

Технические характеристики, гарантирующие точность

Philips XL 40 обладает выдающимися техническими параметрами, обеспечивающими высокую точность и надежность измерений:

• Диапазон регулировки увеличения: 20–200 000 крат.
• Эффективный диаметр электронного зонда (при 30 кВ): не более 3,2 нм.
• Диапазон измерения линейных размеров: от 0,1 мкм до 10 000 мкм.
• Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров: ±5 %.
• Источник электронов: катод из гексаборида лантана (LaBe) для стабильной работы.
• Диапазон регулировки ускоряющего напряжения: 1–30 кВ.
• Разрешение (при 30 кВ): 3,5 нм.

Метрологическая характеристика прибора соответствует самым высоким стандартам, что подтверждает его пригодность для ответственных научных и промышленных задач. Узнать актуальную цену и условия доставки вы можете, связавшись с нами.

Оптимальные условия эксплуатации

Для обеспечения максимальной производительности и долговечности микроскопа рекомендуется соблюдать следующие условия эксплуатации:

• Температура воздуха в помещении: 20 ± 3 °C.
• Стабильность температурного режима: < 1 °C/ч.
• Влажность: не более 75 %.

Заказать растровый электронный микроскоп Philips XL 40, а также получить консультацию по его установке и эксплуатации можно в компании «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ». Мы также предлагаем услуги по поверке оборудования.

Контактная информация:

Телефон: 8 (800) 511-77-51

E-mail: info@labcsm.ru

Не упустите возможность вывести ваши исследования на новый уровень. Свяжитесь с нами сегодня, чтобы обсудить, как растровый электронный микроскоп Philips XL 40 может удовлетворить потребности вашей лаборатории.

[HYDRA_UPDATED]