Микроскоп электронный сканирующий Inspect S50

Сканирующий электронный микроскоп Inspect S50: Ваш ключ к миру наноструктур

Откройте для себя безграничные возможности исследования микромира с помощью сканирующего электронного микроскопа Inspect S50. Этот передовой прибор, разработанный для точных измерений и детального анализа, станет незаменимым инструментом в вашей лаборатории. Inspect S50 позволяет с высокой точностью определять линейные размеры, изучать форму, ориентацию и другие критически важные параметры наноструктур и микрорельефа поверхностей самых разнообразных объектов. Для расширения аналитических возможностей, прибор легко интегрируется с рентгеновскими микроанализаторами, открывая новые горизонты в прикладных исследованиях.

Принцип работы и возможности

В основе работы Inspect S50 лежит фундаментальный принцип взаимодействия сфокусированного электронного пучка с поверхностью исследуемого образца. Электронный луч методично сканирует заданный участок, формируя детальное изображение, где каждая точка поверхности соответствует точке на экране. В момент контакта электронного луча с образцом генерируется целый комплекс сигналов. Выбор и активация определенного детектора позволяют получать изображения с различной информацией, будь то топографический контраст или данные о элементном составе.

Микроскоп Inspect S50 специализируется на измерении проекций геометрических расстояний на горизонтальную плоскость, что эквивалентно определению расстояния между соответствующими точками на плоской, горизонтально ориентированной поверхности объекта. Это делает его идеальным инструментом для точного количественного анализа.

Конструктивные особенности и комплектация

Inspect S50 представляет собой современный лабораторный прибор, состоящий из нескольких ключевых блоков:

• Основная консоль с высокоточной электроно-оптической колонной.
• Камера для образцов, обеспечивающая герметичные условия для исследования.
• Эффективная вакуумная система, работающая в двух режимах: высоковакуумном (HiVac) и низковакуумном (LoVac), полностью автоматизированная для удобства пользователя.
• Блок электроники, включающий модули сканирования и детектирования.
• Управляющий компьютер (типа IBM PC) со специализированным программным обеспечением Inspect S.

Источником электронов высокой энергии служит электронная пушка с термоэмиссионным вольфрамовым катодом, гарантирующая стабильность и качество электронного пучка.

Детекторы для всестороннего анализа

Микроскоп Inspect S50 оснащен передовыми детекторами, позволяющими получать разнообразные электронно-микроскопические изображения:

• Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (EDT) и детектор вторичных электронов в режиме низкого вакуума (LFD): Идеальны для получения изображений с выраженным топографическим контрастом, демонстрируя мельчайшие детали рельефа поверхности.
• 4-х сегментный твердотельный детектор обратно-рассеянных электронов (BSED): Предоставляет информацию об элементном составе образца, основываясь на контрасте среднего атомного номера.

Удобство работы и управления

Предметный столик камеры образцов обладает моторизированным управлением по четырем осям (X, Y, Z и вращение) с углом наклона от -15° до 75°. Все перемещения столика точно контролируются программным обеспечением Inspect S50, обеспечивая легкое позиционирование образца. Для установки образцов предусмотрены специальные держатели: для одного или нескольких образцов.

Интуитивно понятное управление микроскопом, его настройка и обработка полученных данных осуществляются с помощью стандартной мыши и клавиатуры управляющего компьютера. Специализированное программное обеспечение Inspect S позволяет выводить изображения и данные на монитор, сохранять их в компьютере или экспортировать на USB-накопитель.

Программное обеспечение и метрологические характеристики

Программное обеспечение Inspect S50 имеет уровень защиты «средний» согласно Р 50.2.077-2014. Влияние ПО учтено производителем при нормировании метрологических характеристик прибора.

Метрологические характеристики:

• Диапазон измерений линейных размеров: от 300 нм до 2 мкм.
• Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров: ±3%.
• Разрешение: 3,0 нм.

Основные технические характеристики:

• Диапазон регулирования увеличения: от 13 до 1 000 000 крат.
• Давление в камере: не более 140-2 Па.
• Параметры электропитания: 220 В ±10%, 50 Гц.
• Габаритные размеры: 2170 x 1215 x 1570 мм.
• Масса: не более 841 кг.
• Условия эксплуатации: температура +15…+25 °C, относительная влажность до 80% (без конденсата).
• Средний срок службы: не менее 10 лет.

Поверка и сертификация

Прибор поставляется с методикой поверки МП 78-223-2015, утвержденной ФГУП «УНИИМ». Поверка осуществляется с использованием рабочего эталона единицы длины 4-го разряда по ГОСТ Р 8.763-2011. Знак утверждения типа наносится на титульный лист «Руководства по эксплуатации», а знак поверки – на свидетельство о поверке.

Комплектность поставки

В стандартный комплект поставки входят:

• Микроскоп электронный сканирующий Inspect S50 – 1 шт.
• Руководство по эксплуатации (включая руководство пользователя ПО) – 1 шт.
• Методика поверки – 1 экз.

Сделайте заказ в «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ»

Мы предлагаем вам заказать сканирующий электронный микроскоп Inspect S50 с гарантией качества и профессиональной поддержкой. Уточните актуальную цену и условия доставки, связавшись с нашими специалистами. Мы готовы предоставить подробную консультацию по всем вопросам, касающимся метрологической характеристики и эксплуатации прибора.

Телефон: 8 (800) 511-77-51

E-mail: info@labcsm.ru

Не упустите возможность оснастить свою лабораторию передовым аналитическим оборудованием. Свяжитесь с нами сегодня, чтобы получить экспертную консультацию и подобрать оптимальное решение для ваших задач!

[HYDRA_UPDATED]