Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV

Сканирующий электронный микроскоп JSM-6490LV: Ваш ключ к микромиру с высочайшей точностью

Откройте для себя мир мельчайших деталей с помощью сканирующего электронного микроскопа JSM-6490LV – передового решения для исследований, требующих исключительной детализации и глубокого анализа. Этот прибор не просто визуализирует поверхность объектов с беспрецедентным пространственным разрешением, но и открывает возможности для точного измерения масштабного коэффициента видеоизображения, а также для проведения элементного анализа и картирования даже при малых увеличениях. Если вам важна достоверность результатов и глубина понимания структуры исследуемых материалов, JSM-6490LV станет незаменимым инструментом в вашей лаборатории.

Принцип работы и возможности

В основе работы JSM-6490LV лежит высокотехнологичное взаимодействие сфокусированного электронного пучка с поверхностью образца. Сканирование электронным лучом инициирует эмиссию обратнорассеянных электронов, которые несут ценнейшую информацию о рельефе, а также физических и химических свойствах материала. Эти электроны, детектируемые специализированными полупроводниковыми элементами, преобразуются в электрические сигналы. Сложная система обработки сигналов позволяет формировать как композиционное, так и топографическое изображение, обеспечивая полное представление о структуре поверхности.

Ключевые преимущества JSM-6490LV:

* **Высокое пространственное разрешение:** Получение детализированных изображений поверхности с минимальными искажениями. * **Точное измерение масштабного коэффициента:** Обеспечивает достоверность количественных измерений на изображении. * **Элементный анализ и картирование:** Возможность определения элементного состава и его распределения по поверхности образца. * **Гибкость настроек:** Широкий диапазон регулировки ускоряющего напряжения (0,3 – 30 кВ) и увеличение от 8 до 300 000 крат. * **Интегрированная система микроанализа:** Комплектация системой энергодисперсионного микроанализа INCA Energy 450 для расширенных аналитических возможностей. * **Удобство работы:** Моторизованный 5-осевой столик и просторная объектная камера для размещения образцов высотой до 80 мм.

Состав микроскопа:

* Система энергодисперсионного микроанализа INCA Energy 450. * Электронно-оптическая система с минимальным увеличением х8 при рабочем расстоянии (WD) 48 мм. * 5-осевой моторизованный объектный столик. * Объектная камера, вмещающая образцы высотой до 80 мм. * Высокочувствительный электронный детектор. * Современная дисплейная система. * Надежная вакуумная система. * Система защиты от перепадов напряжения, отключения воды и короткого замыкания.

Интеллектуальное программное обеспечение INCA Energy 450

Управление микроскопом и обработка данных осуществляются через интуитивно понятное программное обеспечение, установленное на персональный компьютер. Интерфейс INCA Energy 450, разработанный для максимального удобства пользователя, включает в себя систему навигаторов, которые пошагово проводят через все этапы анализа: от создания нового проекта до формирования готового отчета.

Основные режимы работы ПО:

* **Анализатор:** Для накопления спектра с участка образца, облучаемого электронным пучком. * **Point & ID:** Для анализа выбранных участков образца в режиме сканирования. * **Картирование:** Для получения карты распределения химических элементов по поверхности. Все результаты измерений надежно сохраняются на жестком диске компьютера. Обмен данными между микроскопом и ПК осуществляется по интерфейсу USB, гарантируя целостность и точность передачи информации. Метрологически значимая часть программного обеспечения защищена от изменений и размещена в энергонезависимой памяти микроконтроллера.

Технические характеристики:

* **Разрешающая способность (при 30 кВ):** 3 нм (высокий вакуум), 4 нм (низкий вакуум). * **Перемещение объекта:** Ось X - 125 мм, Ось Y - 100 мм, Ось Z - диапазон эксцентричных перемещений WD 5-80 мм, диапазон фокусировки WD 5-48 мм. * **Наклон объекта (Т):** от -10° до +90°. * **Поворот объекта (R):** 360°. * **Масштабный коэффициент видеоизображения (m):** не более 1,07 нм/пиксель. * **Предел допускаемой основной относительной погрешности измерения масштабного коэффициента:** ±0,1 %. * **Увеличение:** 8 – 300 000 крат.

Поверка и метрологическое обеспечение

Микроскоп JSM-6490LV соответствует всем требованиям к измерительному оборудованию. **Поверка** осуществляется согласно утвержденной методике № МП 73.Д4-11. Основным средством поверки является рельефная мера ширины и периода нанометрового диапазона МШПС-2.0К. Точность измерений подтверждается высокой **метрологической характеристикой** прибора.

Комплектность поставки:

* Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV. * Система энергодисперсионного микроанализа INCA Energy 450. * Блок электронно-оптической колонны. * Блок управления. * Персональный компьютер. * Программное обеспечение. * Масляно-ротационный насос. * Виброизолятор. * Циркуляционный водоохладитель. * Набор инструментов и комплект принадлежностей для установки и транспортировки. * Руководство по эксплуатации и методика поверки.

Заказать микроскоп JSM-6490LV

Мы предлагаем выгодные условия на приобретение сканирующего электронного микроскопа JSM-6490LV. Узнайте актуальную **цену** и условия **доставки** по всей России. Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» гарантирует высокое качество оборудования и профессиональную поддержку. Для получения подробной консультации по техническим характеристикам, условиям поставки или для оформления заказа, пожалуйста, свяжитесь с нами: Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru

[HYDRA_UPDATED]