Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Инвертированный оптический микроскоп OLYMPUS GX71F: Точность и Гибкость для Ваших Исследований
OLYMPUS GX71F – это передовой инвертированный оптический микроскоп, разработанный для высокоточных измерений и детальных металлографических исследований. Этот прибор станет незаменимым инструментом в арсенале специалистов машиностроения, геологии, микроэлектроники и других отраслей, где контроль качества и анализ структуры материалов играют ключевую роль. Благодаря своей модульной конструкции и широким возможностям, GX71F позволяет адаптировать конфигурацию под специфические задачи, обеспечивая максимальную эффективность и достоверность результатов.
Принцип работы и ключевые особенности
Сердце микроскопа OLYMPUS GX71F – это его инновационная система измерений. Принцип работы основан на бесконтактном определении поперечных размеров объектов контроля. Изображение, формируемое высококачественным объективом, передается на цифровую камеру DP72. Полученные данные обрабатываются и выводятся на экран персонального компьютера, предоставляя пользователю точные результаты измерений в удобном формате. Такая технология гарантирует минимальное воздействие на исследуемый образец и высокую точность.
Модульная конструкция микроскопа обеспечивает исключительную гибкость. Вы можете скомбинировать различные компоненты, чтобы создать оптимальную конфигурацию, идеально соответствующую вашим исследовательским или производственным потребностям. Промежуточный блок с возможностью изменения увеличения от 1x до 2x расширяет диапазон наблюдаемых деталей, а устойчивое Т-образное основание с виброзащитными опорами гарантирует стабильность изображения даже при работе с чувствительными образцами.
Многообразие методов наблюдения
OLYMPUS GX71F поддерживает широкий спектр методов наблюдения, позволяя исследовать образцы с различных ракурсов и выявлять мельчайшие детали структуры:
- Светлое поле (BF): Стандартный метод для общей визуализации.
- Темное поле (DF): Идеален для выявления дефектов поверхности и границ зерен.
- Поляризованный свет (PL): Позволяет анализировать анизотропные материалы.
- Дифференциально-интерференционный контраст (DIC): Обеспечивает рельефное изображение, подчеркивая тончайшие детали поверхности.
- Флуоресценция (FL): Применяется для обнаружения и анализа флуоресцирующих веществ.
Технические характеристики для точных измерений
Микроскоп OLYMPUS GX71F обладает впечатляющими метрологическими характеристиками, что делает его надежным инструментом для прецизионных измерений:
- Диапазон измерений: от 2 до 1000 мкм.
- Перемещение предметного стола (2 координаты): 0-50 мм.
- Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений:
- от 2 до 100 мкм
- от 100 до 200 мкм
- от 200 до 500 мкм
- от 500 до 1000 мкм
- Предел среднего квадратического отклонения:
- от 2 до 100 мкм
- от 100 до 200 мкм
- от 200 до 500 мкм
- от 500 до 1000 мкм
- Увеличение объективов: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x.
- Диапазон увеличений микроскопа: от 50 до 2000 крат.
Габаритные размеры: 748x280x453 мм.
Масса: 39 кг.
Средний срок службы: не менее 10 лет.
Поверка и соответствие стандартам
Поверка микроскопа OLYMPUS GX71F осуществляется в строгом соответствии с утвержденной методикой ТГУ44.3100 МП. В качестве основного поверочного оборудования используется эталонный объект-микрометр Olympus N 2031 (ГОСРЕЕСТР СИ N 41515-09). Межповерочный интервал составляет 2 года, что гарантирует поддержание высокой точности прибора в течение всего срока эксплуатации. Микроскоп соответствует государственным поверочным схемам МИ 2060-90 и МИ 2270-93, что подтверждает его метрологическую обеспеченность.
Комплект поставки
При поставке микроскоп OLYMPUS GX71F (заводской номер 3D09095) включает в себя:
- Микроскоп в сборе
- Предметный столик (2 шт.: GX-SFR, GX-SVR)
- Револьвер объективов (на 5 объективов)
- Источник света (100 Вт галогеновая, 100 Вт Hg, 75 Вт Xe, 50 Вт галоидные лампы)
- Тубус окулярный
- Окуляры (U-SWBI30, U-SWTR-2)
- Встроенный блок питания (12 В, 100 Вт)
- Диафрагмы (полевая и апертурная)
- Порт вывода (фронтальный)
- Измерительная фотомикрографическая насадка (цифровая камера DP72)
- Персональный компьютер (ПК)
- Руководство по эксплуатации (на русском языке)
- Методика поверки
Заказать микроскоп OLYMPUS GX71F
Если вам требуется высокоточный и надежный инструмент для металлографических исследований и измерений, инвертированный оптический микроскоп OLYMPUS GX71F – ваш идеальный выбор. Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» предлагает данную модель с гарантией качества и профессиональным сопровождением. Мы обеспечиваем оперативную доставку по всей России и готовы предоставить полную информацию о цене и условиях приобретения.
Для получения подробной консультации, уточнения метрологических характеристик или оформления заказа, пожалуйста, свяжитесь с нами по телефону: 8 (800) 511-77-51 или отправьте запрос на E-mail: info@labcsm.ru. Наши специалисты помогут подобрать оптимальное решение для ваших задач!
Счёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
