Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX51
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов, в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Исследовательский Микроскоп Olympus BX51: Ваш Ключ к Точным Измерениям и Глубокому Анализу
Откройте новые горизонты в материаловедении, геологии, микроэлектронике и машиностроении с универсальным исследовательским микроскопом Olympus BX51. Этот прибор — не просто инструмент, а комплексное решение для точных бесконтактных измерений, контроля качества и глубокого анализа структуры материалов. Благодаря своей модульности и передовым оптическим возможностям, BX51 станет незаменимым помощником для лабораторий, стремящихся к высочайшей точности и эффективности.
Назначение и Области Применения
Микроскоп Olympus BX51 разработан для проведения прецизионных измерений в ходе металлографических исследований. Он идеально подходит для:
- Контроля качества материалов и изделий в машиностроении.
- Исследования структуры горных пород и минералов в геологии.
- Анализа компонентов и дефектов в микроэлектронике.
- Научных исследований в различных отраслях промышленности, где требуется высокая точность и надежность измерений.
Инновационные Технологии для Безупречных Результатов
Принцип работы микроскопа основан на передовом бесконтактном методе измерения поперечных размеров объектов. Это гарантирует сохранность образцов и исключает влияние измерительного инструмента на исследуемую структуру.
Модульная Конструкция для Гибкости
Olympus BX51 обладает продуманной модульной конструкцией, позволяющей адаптировать конфигурацию прибора под специфические задачи вашей лаборатории. Прочное Y-образное основание с виброзащитными опорами обеспечивает стабильность и точность даже при интенсивной эксплуатации.
Многообразие Методов Наблюдения
Расширьте свои исследовательские возможности благодаря поддержке различных методов наблюдения:
- Светлое поле (BF): Классический метод для детального изучения структуры.
- Темное поле (DF): Идеально для выявления мелких деталей и границ.
- Поляризованный свет (PL): Применяется для анализа анизотропных материалов.
- Дифференциально-интерференционный контраст (DIC): Позволяет визуализировать мельчайшие рельефы поверхности.
- Флуоресценция (FL): Незаменим для исследования биологических и флуоресцирующих образцов.
Технические Характеристики: Точность, на Которую Можно Положиться
Olympus BX51 предлагает выдающиеся метрологические характеристики, гарантирующие достоверность ваших исследований:
Диапазон и Точность Измерений
- Диапазон измерений: от 2 до 1000 мкм.
- Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений:
- 2 - 100 мкм: ±0,2 мкм
- 100 - 200 мкм: ±1,6 мкм
- 200 - 500 мкм: ±2,4 мкм
- 500 - 1000 мкм: ±3,2 мкм
- Предел среднего квадратического отклонения:
- 2 - 100 мкм: 0,06 мкм
- 100 - 200 мкм: 0,2 мкм
- 200 - 500 мкм: 1,2 мкм
- 500 - 1000 мкм: 1,4 мкм
Оптические Параметры
- Увеличение объективов: 2x, 10x, 20x, 50x, 100x.
- Общий диапазон увеличений: от 50x до 1000x.
Электропитание и Условия Эксплуатации
- Питание: Сеть переменного тока 220 В, 50 Гц.
- Рабочие условия: Закрытые отапливаемые помещения (группа В1 по ГОСТ Р 52931) при температуре (20 ± 5) °C, относительной влажности до 60% и атмосферном давлении (100 ± 5) кПа.
- Средний срок службы: не менее 20 лет.
Комплектность и Сертификация
Микроскоп поставляется в полной комплектации, готовой к работе, включая:
- Микроскоп Olympus BX51 (заводской номер 7G21084).
- Предметные столики (U-SVR, U-SP).
- Револьверная головка на 5 объективов.
- Источник света (металл-галидная, Hg, Xe лампы).
- Окулярный тубус с окулярами (U-BI30-2, U-SWTR-3).
- Встроенный блок питания.
- Полевая и апертурная диафрагмы.
- Фронтальный порт вывода.
- Измерительная фотомикрографическая насадка с цифровой камерой DP72.
- Персональный компьютер с минимальными требованиями.
- Руководство по эксплуатации и методика поверки на русском языке.
Знак утверждения типа средств измерений нанесен на прибор и документацию, подтверждая его соответствие государственным стандартам.
Поверка и Метрологическое Обеспечение
Микроскоп Olympus BX51 прошел утверждение типа и метрологически обеспечен в эксплуатации согласно государственным поверочным схемам. Поверка осуществляется в соответствии с документом ТГУ44.3101 МП «Микроскопы исследовательские универсальные Olympus ВХ51. Методика поверки», утвержденным ФГУП «СНИИМ». Основным поверочным оборудованием является эталонный объект-микрометр Olympus N 2031 (ГОСРЕЕСТР СИ N 41515). Межповерочный интервал составляет 2 года.
Заказать Микроскоп Olympus BX51 с Доставкой
«ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» предлагает вам заказать исследовательский микроскоп Olympus BX51. Мы обеспечиваем профессиональную консультацию, выгодную цену и оперативную доставку по всей России. Уточните актуальную стоимость и условия поставки у наших менеджеров.
Для получения подробной консультации, расчета стоимости и оформления заказа, пожалуйста, свяжитесь с нами:
Телефон: 8 (800) 511-77-51
E-mail: info@labcsm.ru
Счёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.