Микроскоп растровый электронный NVision 40

NVision 40: Ваш Ключ к Прецизионным Измерениям Микроструктур

Откройте для себя мир субмикронных деталей с растровым электронным микроскопом NVision 40 – передовым решением для точного анализа и измерения микрорельефа твердотельных структур. Этот мощный инструмент, разработанный для самых требовательных задач, станет незаменимым помощником в научных исследованиях, разработке новых материалов и контроле качества в высокотехнологичных отраслях.

Области Применения: Где NVision 40 Раскрывает Свой Потенциал

NVision 40 – это универсальный прибор, востребованный в широком спектре дисциплин:

• Материаловедение: Исследование структуры и свойств новых материалов.
• Микроэлектроника и Полупроводниковые Технологии: Анализ топологии микросхем, контроль производственных процессов.
• Геология: Изучение микроструктуры горных пород и минералов.
• Биология: Детальное исследование биологических образцов на клеточном и субклеточном уровне.
• Металлургия: Анализ микроструктуры металлов и сплавов.
• Промышленные Лаборатории: Обеспечение контроля качества продукции.
• Научно-исследовательские и Учебные Организации: Фундаментальные исследования и подготовка специалистов нового поколения.

Принцип Работы: Высокоточное Сканирование и Анализ

NVision 40 функционирует на основе принципа взаимодействия сфокусированного электронного пучка с поверхностью исследуемого образца. Электронный луч последовательно сканирует заданную область, формируя детальное изображение. Каждая точка объекта в пределах поля зрения микроскопа находит свое точное соответствие на формируемом изображении. В процессе взаимодействия электронного пучка с поверхностью генерируется комплекс сигналов, которые регистрируются различными детекторами. Выбор активного детектора позволяет получать разнообразные типы электронномикроскопических изображений, раскрывая различные аспекты структуры образца.

Ключевые особенности анализа:

• Измерение проекции геометрических расстояний на горизонтальную плоскость, что обеспечивает точное определение размеров на плоских и горизонтально ориентированных поверхностях.

Передовая Система Детектирования для Максимальной Информативности

NVision 40 оснащен интеллектуальной системой детектирования, включающей:

• Два детектора вторичных электронов: Различные геометрические расположения этих детекторов в колонне микроскопа позволяют получать изображения с разной чувствительностью к рельефу поверхности.
• Детектор отраженных электронов: Предоставляет информацию о составе образца и топографии поверхности.

Удобство и Контроль: Инфракрасные Телекамеры для Навигации

Для максимального удобства оператора NVision 40 оснащен двумя вспомогательными инфракрасными телекамерами. Они обеспечивают визуальный контроль перемещений и поворотов образца на гониометрическом держателе в реальном времени с увеличением около 1,5 раз, что значительно упрощает подготовку к анализу и позиционирование образца.

Безопасность и Надежность: Защищенное Программное Обеспечение

Программное обеспечение NVision 40 имеет надежную защиту от несанкционированного доступа, гарантируя целостность и конфиденциальность ваших данных.

Технические Характеристики: Прецизионность в Цифрах

Разрешающая способность: 1,8 x 10^-3 мкм

Диапазон регулировки увеличения: 20 – 900 000 крат

Диапазон измерений линейных размеров: 2 x 10^-2 – 2 x 10³ мкм

Пределы допускаемой основной абсолютной погрешности измерения линейных размеров по осям X и Y: не более (4 + 0,051*L) нм, где L – длина измеряемого объекта в нм.

Номинальное напряжение сети питания: 220 ± 5% В

Максимальная потребляемая мощность: 3,6 кВ·А

Габаритные размеры основных составных частей (не более, мм):

• Стенд с колонной, вакуумным агрегатом: 2335 x 980 x 1740
• Блок питания: 800 x 600 x 1430

Условия эксплуатации:

• Температура окружающего воздуха: (22 ± 0,2) °C
• Относительная влажность воздуха: (40 ± 2) %
• Избыточное давление воздуха в помещении относительно атмосферного: (30 ± 0,3) Па

Общая масса (без ЗИП и упаковки, не более): 1520 кг

Поверка и Метрологическое Обеспечение

Поверка растрового электронного микроскопа NVision 40 осуществляется в строгом соответствии с ГОСТ Р 8.631-2007 «ГСИ. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки». Межповерочный интервал составляет один год, что гарантирует стабильность и точность метрологических характеристик прибора.

Знак утверждения типа наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати, подтверждая соответствие прибора установленным стандартам.

Комплект Поставки

При заказе NVision 40 вы получаете полный комплект для немедленного начала работы:

• Микроскоп электронный растровый NVision 40 – 1 экз.
• Комплект ЗИП и расходные материалы – 1 компл.
• Руководство по эксплуатации – 1 шт.

Нормативные Документы

Техническая документация от ведущего мирового производителя «Carl Zeiss, Inc», Германия, гарантирует высочайшее качество и соответствие международным стандартам.

Заключение

Растровый электронный микроскоп NVision 40 утвержден с полным соответствием заявленным техническим и метрологическим характеристикам, что подтверждает его надежность и точность в эксплуатации. Если вам необходимо заказать этот высокопроизводительный прибор, мы готовы предложить выгодные условия и оперативную доставку.

Цена на NVision 40 и подробные условия приобретения доступны по запросу. Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» является вашим надежным партнером в оснащении лабораторий передовым оборудованием.

Для получения более детальной информации, консультации по выбору и оформления заказа, пожалуйста, свяжитесь с нами:

Телефон: 8 (800) 511-77-51

E-mail: info@labcsm.ru

Наши специалисты готовы ответить на все ваши вопросы и помочь подобрать оптимальное решение для ваших задач.

[HYDRA_UPDATED]