Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA)

Сканирующие электронные микроскопы JSM IT300x: Точность и Универсальность для Ваших Исследований

Откройте новые горизонты в анализе микроструктур с помощью сканирующих электронных микроскопов серии JSM IT300x от JEOL. Эти передовые приборы, представленные в модификациях JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A и JSM IT300LA, являются незаменимым инструментом для исследователей, которым требуется высокая точность в количественном морфологическом анализе и измерении линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.

Благодаря уникальным технологиям формирования изображения, основанным на сканировании сфокусированным электронным зондом и регистрации детектируемых электронов, микроскопы JSM IT300x обеспечивают получение детализированных изображений с высоким разрешением. Увеличение достигается путем точного соотношения размера изображения на мониторе к размеру растра на исследуемом образце, что позволяет детально изучать мельчайшие особенности поверхности.

Ключевые компоненты и возможности

Каждый микроскоп серии JSM IT300x представляет собой комплексное решение, включающее:

• Электронно-оптическую систему (колонну): сердце прибора, обеспечивающее формирование и управление электронным пучком.
• Камеру объектов с прецизионным механизмом перемещения: для точного позиционирования образца.
• Детекторы вторичных и обратно рассеянных электронов: для получения разнообразной информации о поверхности.
• Эффективную вакуумную систему: гарантирующую стабильные условия для работы.
• Современное видеоконтрольное устройство: для визуализации и анализа изображений.
• Надежный блок питания: обеспечивающий стабильную работу всех систем.

Микроскопы способны работать в режимах регистрации как вторичных, так и обратно рассеянных электронов, предоставляя пользователю гибкость в выборе оптимального метода исследования.

Режимы работы и модификации

Стандартный режим работы всех микроскопов серии — режим высокого вакуума, обеспечивающий остаточное давление в камере образцов от 1,3 x 10⁻⁴ до 1,3 x 10⁻³ Па. Для специфических задач некоторые модификации предлагают режим низкого вакуума (остаточное давление от 10 до 100 Па), что особенно удобно для исследования образцов, чувствительных к вакууму.

Различия между модификациями:

• JSM IT300: Оптимален для работы исключительно в режиме высокого вакуума.
• JSM IT300A: Сочетает режим высокого вакуума с интегрированным энергодисперсионным спектрометром (ЭДС). Возможна опция с рентгеновским спектрометром с дисперсией по длине волны для расширенного элементного анализа.
• JSM IT300LV: Универсальное решение, поддерживающее как режим высокого, так и режим низкого вакуума.
• JSM IT300LA: Максимальная функциональность — режим высокого и низкого вакуума, а также встроенный ЭДС. Опционально может быть оснащен рентгеновским спектрометром с дисперсией по длине волны.

Управление всеми режимами осуществляется интуитивно понятно через специализированное программное обеспечение, установленное на управляющей ПЭВМ.

Безопасность и программное обеспечение

При разработке микроскопов JSM IT300x особое внимание уделено безопасности оператора. Даже при максимальных значениях ускоряющего напряжения и тока зонда, мощность эквивалентной дозы рентгеновского излучения на расстоянии 10 см от прибора не превышает 1 мкЗв/ч, что соответствует самым строгим стандартам.

Управление микроскопами осуществляется с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ, использующей специализированное программное обеспечение (ПО). Уровень защиты ПО от несанкционированных изменений соответствует стандарту «высокий» (Р 50.2.077-2014).

Технические характеристики и поверка

Микроскопы JSM IT300x обладают выдающимися метрологическими характеристиками:

• Пространственное разрешение: до 3 нм (в режиме вторичных электронов, высокий вакуум, 30 кВ).
• Диапазон измерений линейных размеров: от 0,03 до 1000 мкм.
• Пределы допускаемой относительной погрешности измерений: ±10%.

Основные технические параметры:

• Габаритные размеры (приблизительно): консоль 750х1000х1400 мм, блок управления 800х1200х800 мм.
• Масса: до 360 кг.
• Рабочий диапазон температур: от 15 до 27 °С.
• Напряжение питания: 220 ± 22 В (переменный ток, 50/60 Гц).
• Потребляемая мощность: не более 2500 В·А.

Поверка микроскопов осуществляется согласно утвержденной методике МП 60731-15. Для проведения поверки используются специализированные средства, такие как мера ширины и периода МШПС-2.0К и островковая пленка золота на углероде.

Комплект поставки включает сам микроскоп, комплект запасных частей, инструментов и принадлежностей (ЗИП), а также полную техническую документацию от производителя.

Заказать микроскоп JSM IT300x

Если вам необходим надежный и точный инструмент для исследований на микроуровне, сканирующие электронные микроскопы JSM IT300x — ваш выбор. Мы предлагаем выгодные условия на заказ оборудования, а также оперативную доставку по всей России. Наши специалисты готовы предоставить полную консультацию по метрологическим характеристикам и помочь подобрать оптимальную модификацию для ваших задач.

«ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» является вашим надежным партнером в области лабораторного оборудования. Мы гарантируем высокое качество продукции и профессиональный подход к каждому клиенту.

Телефон: 8 (800) 511-77-51
E-mail: info@labcsm.ru

Свяжитесь с нами сегодня, чтобы узнать больше о микроскопах JSM IT300x и получить индивидуальное предложение!

[HYDRA_UPDATED]