Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000

Конфокальный лазерный измерительный микроскоп LEXT OLS5000: Точность и Детализация для Ваших Исследований

Представляем LEXT OLS5000 – передовое решение для высокоточных измерений и детального анализа поверхности твердотельных объектов. Этот конфокальный лазерный микроскоп открывает новые горизонты в исследовании микрорельефа, позволяя с беспрецедентной точностью определять линейные размеры элементов по осям X, Y, Z, а также оценивать параметры шероховатости. Если вам важна каждая деталь и абсолютная достоверность результатов, LEXT OLS5000 станет незаменимым инструментом в вашей лаборатории.

Принцип работы: Инновации для Чистого Сигнала

Сердце LEXT OLS5000 – это уникальная конфокальная оптика. Принцип работы основан на использовании специальной диафрагмы, расположенной в плоскости промежуточного изображения. Эта диафрагма действует как высокоэффективный пространственный фильтр, отсекая рассеянный свет, который не исходит из фокальной плоскости объектива. Чем меньше диаметр диафрагмы, тем точнее фокусировка и тем чище информативный сигнал. Это гарантирует получение изображений с минимальным количеством артефактов и максимальной детализацией.

В каждый момент времени конфокальный микроскоп регистрирует изображение из одной точки объекта. Полная картина формируется путем последовательного сканирования и регистрации света из элементарных объемов. Такая технология позволяет получать серии изображений на разных глубинах фокуса внутри образца, что называют оптическим секционированием. На их основе затем реконструируется точное трехмерное изображение исследуемой поверхности.

Передовые Технологии Сканирования и Оптики

В LEXT OLS5000 реализован сканер нового поколения, отличающийся минимальными оптическими аберрациями и пониженной дисторсией. Для сканирования по оси X используется высокоточный МЭМС-сканер с электромагнитным приводом, а по оси Y – надежный гальваносканер. Для максимального удобства пользователя предусмотрена двухканальная система конфокальной оптики с двумя различными диафрагмами. Выбор оптимальной диафрагмы происходит автоматически, учитывая тип объектива и выбранный режим работы.

Микроскоп оснащен двумя независимыми оптическими системами:

• Лазерная конфокальная система: Использует лазерный диод с длиной волны 405 нм и высокочувствительный фотоумножитель для получения детальных изображений.
• Система цветного изображения: Оснащена белым светодиодом и CMOS-матрицей, позволяя получать полноцветные изображения.

Конструкция и Модификации

Конструктивно LEXT OLS5000 представляет собой настольный основной блок, блок электроники и персональный компьютер с предустановленным программным обеспечением. Основной блок включает в себя:

• Столик образцов: Перемещается по осям X и Y вручную или автоматически (в зависимости от модели), обеспечивая гибкость в позиционировании образца.
• Измерительная оптическая головка: Содержит набор сменных объективов. Перемещение головки по оси Z точно контролируется встроенной измерительной системой.

Микроскоп доступен в нескольких модификациях (OLS5000-SAF, OLS5000-SMF, OLS5000-LAF, OLS5000-EAF, OLS5000-EMF), которые различаются типом привода столика образцов, диапазоном его перемещения и максимальной высотой исследуемого объекта. Это позволяет подобрать оптимальное решение для конкретных задач.

Программное Обеспечение: Интеллектуальный Анализ Данных

Управление микроскопом и обработка результатов измерений осуществляются с помощью специализированного программного обеспечения «OLYMPUS OLS5000», предустановленного на встроенном ПК. Это мощное ПО позволяет:

• Проводить точные измерения линейных размеров элементов рельефа по осям X, Y, Z.
• Автоматически определять шаг шаговых структур.
• Измерять параметры шероховатости поверхности.
• Определять толщину тонких пленок.
• Выполнять сшивку изображений для создания панорамных снимков.

Программное обеспечение «OLYMPUS OLS5000» является неотъемлемой частью системы и не может быть использовано отдельно от микроскопа. Идентификационные данные ПО соответствуют уровню защиты «средний» согласно Р 50.2.077-2014.

Метрологические Характеристики: Гарантия Точности

LEXT OLS5000 обладает выдающимися метрологическими характеристиками, обеспечивающими высокую точность измерений:

Измерения по оси Z:

• Диапазон: от 0,5 до 800,0 мкм.
• Пределы допускаемой абсолютной погрешности: ±(0,15+L/100) мкм.
• СКО случайной составляющей погрешности (не более): 0,030 мкм (об. 20х), 0,012 мкм (об. 50х, 100х).
• Для сшитых панорамных изображений (SAF, EAF): ±(5,0+L/100) мкм (об. 10х), ±(1,0+L/100) мкм (об. 20х и выше).

Измерения в плоскости XY (в пределах поля зрения):

• Диапазон: от 2 до 1200 мкм (в зависимости от объектива).
• Пределы допускаемой относительной погрешности: ±1,5 %.
• СКО случайной составляющей погрешности (не более): 0,05 мкм (об. 20х), 0,04 мкм (об. 50х), 0,02 мкм (об. 100х).
• Для сшитых панорамных изображений (SAF, EAF): ±(24+L/2) мкм (об. 10х), ±(15+L/2) мкм (об. 20х), ±(9+L/2) мкм (об. 50х), ±(7+L/2) мкм (об. 100х).

Измерения шероховатости:

• Диапазон по Ra: от 0,025 до 100 мкм.
• Диапазон по Rz: от 0,05 до 200 мкм.
• Пределы допускаемой абсолютной погрешности по Ra: ±(0,003+0,04·Ra) мкм.
• Пределы допускаемой абсолютной погрешности по Rz: ±(0,006+0,04·Rz) мкм.

Поверка прибора осуществляется в соответствии с установленными нормами. Мы гарантируем соответствие заявленным метрологическим характеристикам. Уточняйте актуальную цену и условия доставки.

Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» предлагает к заказать конфокальный лазерный измерительный микроскоп LEXT OLS5000. Наши специалисты готовы предоставить полную консультацию по всем вопросам, связанным с выбором, приобретением и эксплуатацией данного оборудования. Свяжитесь с нами по телефону 8 (800) 511-77-51 или по электронной почте info@labcsm.ru, чтобы получить экспертную помощь и подобрать оптимальное решение для ваших задач.

[HYDRA_UPDATED]