Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5100

Конфокальные лазерные измерительные микроскопы LEXT OLS5100: Точность и Детализация для Ваших Исследований

Представляем вам инновационное решение для прецизионного анализа поверхностей – конфокальные лазерные измерительные микроскопы LEXT OLS5100. Эти передовые приборы открывают новые горизонты в исследовании микрорельефа и определении параметров шероховатости твердотельных объектов, обеспечивая беспрецедентную точность и скорость измерений. Если вам необходимы надежные инструменты для контроля качества, разработки новых материалов или научных изысканий, LEXT OLS5100 станет вашим незаменимым помощником.

Ключевые возможности и принцип работы

Принцип действия LEXT OLS5100 основан на передовой конфокальной оптике. Центральным элементом является диафрагма, расположенная в плоскости промежуточного изображения. Она эффективно отсекает рассеянный свет, исходящий не из фокальной плоскости, что позволяет получать максимально чистый и информативный сигнал. Чем меньше диаметр диафрагмы, тем точнее фокусировка и детальнее изображение. Сочетая методы оптической микроскопии и профилометрии, микроскопы используют лазерный источник излучения для получения высокоточных данных о линейных размерах в плоскостях XY и по оси Z.

Особенности конфокальной технологии:

* **Поточечная регистрация:** Каждое изображение формируется путем последовательного сканирования объекта, что обеспечивает высокую детализацию. * **Оптическое секционирование:** Возможность получения серии изображений на разных глубинах позволяет реконструировать полную 3D-модель образца. * **Высокопроизводительный сканер:** Новый сканер с пониженной дисторсией и минимальными аберрациями (МЭМС-сканер для оси X и гальваносканер для оси Y) гарантирует стабильность и точность сканирования. * **Двухканальная оптика:** Гибкость в выборе конфокальных диафрагм, автоматически подстраивающихся под объектив и режим работы, повышает удобство использования.

Две системы для комплексного анализа

Микроскопы LEXT OLS5100 оснащены двумя независимыми оптическими системами: * **Лазерная конфокальная система:** Использует лазерный диод (405 нм) и высокочувствительный фотоумножитель для детального анализа рельефа. * **Система цветного изображения:** Оснащена белым светодиодом и CMOS-матрицей для получения полноцветных изображений образцов.

Конструктивные особенности и модификации

Конструкция микроскопа включает настольный основной блок, блок электроники и персональный компьютер с предустановленным программным обеспечением. Основной блок содержит прецизионный столик образцов с ручным или автоматическим перемещением (в зависимости от модели) и измерительную оптическую головку. Доступны различные модификации, каждая из которых оптимизирована под конкретные задачи: * **OLS5100-SAF:** Моторизованный столик, большой диапазон перемещения, высокая максимальная высота образца. * **OLS5100-SMF:** Ручной привод столика, компактность. * **OLS5100-EAF:** Моторизованный столик, расширенный диапазон перемещения, увеличенная высота образца. * **OLS5100-HSU:** Моторизованный столик, максимальная высота образца.

Интеллектуальное программное обеспечение OLYMPUS OLS5100

Управление микроскопом и обработка данных осуществляются с помощью специализированного ПО «OLYMPUS OLS5100». Оно обеспечивает: * Измерение линейных размеров по осям X, Y, Z. * Автоматическое определение шага шаговых структур. * Анализ параметров шероховатости поверхности. * Измерение толщины пленок. * Сшивку панорамных изображений для создания больших полей обзора. Программное обеспечение является неотъемлемой частью системы и не может использоваться отдельно от микроскопа. Уровень защиты ПО соответствует типу «средний» согласно Р 50.2.077-2014.

Метрологические характеристики и технические параметры

Микроскопы LEXT OLS5100 обладают выдающимися метрологическими характеристиками, обеспечивая высокую точность измерений.

Основные метрологические характеристики:

* **Диапазон измерений в плоскости XY:** от 2 мкм (объектив 100х) до 1200 мкм (объектив 10х). * **Пределы допускаемой относительной погрешности в XY:** ±1,5%. * **Диапазон измерений по оси Z:** от 0 до 9500 мкм. * **Пределы допускаемой абсолютной погрешности по оси Z:** ±(0,15+L/100) мкм. * **Диапазон измерений шероховатости (Ra):** от 0,005 до 50 мкм. * **Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений шероховатости (Ra):** ±(0,003+0,04·Ra) мкм.

Основные технические характеристики:

* **Разрешение в плоскости XY:** не более 1 нм. * **Разрешение по оси Z:** не более 0,1 нм. * **Диапазон перемещения столика образцов:** до 300х300 мм (в зависимости от модификации). * **Максимальная высота образцов:** до 210 мм (в зависимости от модификации). Заказать эти высокоточные приборы вы можете в компании «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ». Мы гарантируем высокое качество продукции и профессиональный подход к каждому клиенту.

Комплектность поставки

Стандартная комплектация включает: * Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS5100 (конкретная модификация). * Руководство по эксплуатации. * Методика поверки.

Поверка и сертификация

Каждый микроскоп LEXT OLS5100 проходит обязательную поверку. Знак утверждения типа и знак поверки наносятся на прибор и сопровождающую документацию, подтверждая его соответствие метрологическим требованиям.

Свяжитесь с нами для консультации!

Если вам требуется детальная информация о **метрологической характеристике**, условиях **доставки** или актуальной **цене** на конфокальные лазерные измерительные микроскопы LEXT OLS5100, пожалуйста, свяжитесь с нашими специалистами. Мы поможем подобрать оптимальное решение для ваших задач. Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru

[HYDRA_UPDATED]