Микроскопы сканирующие электронные с приставкой для энергодисперсионного микроанализа Hitachi TM4000/TM4000Plus
Микроскопы сканирующие электронные Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микрорельефа и электроннозондового рентгеноспектрального качественного и количественного микроанализа состава образца.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Сканирующие электронные микроскопы Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа: Ваш ключ к детальному исследованию материалов
Откройте новые горизонты в анализе микроструктуры и элементного состава с помощью передовых сканирующих электронных микроскопов Hitachi TM4000 и TM4000Plus. Эти мощные лабораторные приборы, оснащенные инновационной приставкой для энергодисперсионного микроанализа (EDX), предоставляют беспрецедентные возможности для точного измерения размеров, определения морфологии и детального химического анализа образцов. Идеальное решение для научных исследований, контроля качества и промышленной диагностики.Ключевые возможности и преимущества
Сканирующие электронные микроскопы Hitachi TM4000/TM4000Plus в комплексе с приставкой Quantax 75 открывают широкие перспективы для исследователей и инженеров: * **Высокоточное измерение размеров:** Определяйте линейные размеры элементов микрорельефа с высокой точностью в диапазоне от 0,278 до 3000 мкм. * **Детальный элементный анализ:** Проводите качественный и количественный рентгеноспектральный микроанализ состава образца, определяя массовую долю элементов от 0,5% до 100%. * **Разнообразие режимов работы:** Гибкая настройка вакуумных режимов (высокий, средний, низкий вакуум) позволяет работать с широким спектром образцов. * **Улучшенное изображение:** Модификация TM4000Plus оснащена дополнительным низковакуумным детектором вторичных электронов, обеспечивающим превосходное качество изображений для образцов с низким контрастом. * **Интуитивное управление:** Современное программное обеспечение TM4000 Tabletop Microscope и Esprit Compact гарантирует простоту управления, настройки и обработки данных. * **Автоматизация процессов:** Полностью автоматизированная вакуумная система и моторизированный предметный столик SEMover с двумя осями перемещения (X, Y) значительно упрощают работу.Принцип работы: взгляд в микромир
Работа микроскопа основана на сканировании поверхности образца сфокусированным электронным пучком. Взаимодействие электронов с материалом генерирует различные сигналы (вторичные и отраженные электроны), которые регистрируются детекторами. На основе этих сигналов формируется высокодетализированное изображение поверхности. Приставка для энергодисперсионного микроанализа Quantax 75, используя тот же электронный пучок, возбуждает атомы образца, вызывая их характеристическое рентгеновское излучение. Анализ этого излучения позволяет определить элементный состав образца, провести картирование и анализ по линиям.Конструктивные особенности
* **Основная консоль:** Включает электронно-оптическую колонну, камеру для образцов и вакуумную систему. * **Вакуумная система:** Безмасляный форвакуумный насос и турбо-молекулярный насос обеспечивают стабильные рабочие условия. * **Электронная пушка:** Термо-эмиссионный вольфрамовый катод для генерации электронного пучка. * **Детекторы:** Детекторы вторичных и отраженных электронов для формирования изображений. * **Предметный столик:** Моторизированный SEMover с двумя осями перемещения (X, Y) для точного позиционирования образца. * **Управляющий компьютер:** Серверный компьютер со специализированным программным обеспечением для полного контроля над прибором и данными.Программное обеспечение для комплексного анализа
* **TM4000 Tabletop Microscope:** Для управления микроскопом, настройки параметров и обработки изображений. * **Esprit Compact:** Для управления приставкой EDX, проведения элементного анализа, рентгеновского картирования и обработки спектров.Технические характеристики: точность и надежность
* **Диапазон измерений линейных размеров:** от 0,278 до 3000 мкм. * **Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров:** ±5%. * **Диапазон измерений массовой доли элементов:** от 0,5% до 100%. * **Энергетическое разрешение EDX:** не более 129 эВ (на линии Mn Ka1,2). * **Диапазон регулирования увеличения:** от 10 до 100 000 крат. * **Рабочие условия:** температура от +15 до +30 °C, относительная влажность от 20 до 70%, атмосферное давление от 84 до 106 кПа.Комплектность поставки
Стандартная комплектация включает: * Сканирующий электронный микроскоп Hitachi TM4000 или TM4000Plus. * Моторизованный столик образца SEMover. * Приставка для энергодисперсионного микроанализа Quantax 75. * Руководства по эксплуатации на микроскоп и приставку. * Методика поверки. *Дополнительные опции и модификации доступны по согласованию с заказчиком.*Поверка и метрологическое обеспечение
Поверка приборов осуществляется в соответствии с документом 651-19-017 МП «Микроскопы сканирующие электронные Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа. Методика поверки». Мы гарантируем соответствие всем метрологическим характеристикам.Заказать микроскоп Hitachi TM4000/TM4000Plus
Приобрести сканирующие электронные микроскопы Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа вы можете в компании «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ». Мы предлагаем выгодные условия, оперативную доставку и профессиональную поддержку. **Для получения подробной информации о цене, условиях поставки и консультации по выбору оптимальной конфигурации, пожалуйста, свяжитесь с нами:** Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru Наши специалисты помогут вам подобрать идеальное решение для ваших исследовательских задач.Счёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
