Микроскопы сканирующие электронные ZEM
Микроскопы сканирующие электронные ZEM (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементного анализа (опционально, при комплектации энергодисперсионным рентгеновским спектрометром).
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Сканирующие электронные микроскопы ZEM: Ваш ключ к микромиру
Откройте для себя мир мельчайших деталей с помощью сканирующих электронных микроскопов ZEM. Эти передовые приборы от «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» открывают новые горизонты в исследовании микрорельефа твердотельных структур, позволяя проводить точные измерения линейных размеров, детальный морфологический анализ и, опционально, глубокий элементный анализ поверхности. Если вам важна точность и глубина исследования, микроскопы ZEM станут незаменимым инструментом в вашей лаборатории.Принцип работы и возможности
В основе работы микроскопов ZEM лежит инновационная технология сканирования поверхности сфокусированным пучком ускоренных электронов. Детектирование вторичных или обратно-рассеянных электронов позволяет формировать высокодетализированное изображение на экране вашего компьютера, синхронизированное с движением электронного пучка. Увеличение изображения напрямую зависит от соотношения размеров картинки на экране и растра на исследуемом образце.Расширенный элементный анализ
Для тех, кому требуется более глубокое понимание состава исследуемых материалов, микроскопы ZEM могут быть опционально оснащены энергодисперсионным рентгеновским спектрометром (ЭДС). Этот модуль регистрирует характеристическое рентгеновское излучение, возникающее при взаимодействии электронного пучка с образцом. Анализируя полученный спектр, который содержит уникальные линии для каждого химического элемента, вы сможете проводить точный электронно-зондовый элементный анализ. ЭДС, выполненный на базе кремниевого дрейфового детектора с охлаждением элементом Пельтье, гарантирует высокую чувствительность и надежность результатов.Модельный ряд и комплектация
Микроскопы ZEM представлены в трех модификациях: ZEM15, ZEM18 и ZEM20. Основные отличия между ними заключаются в значениях ускоряющего напряжения и, как следствие, в достижимом пространственном разрешении. Все модели выполнены в компактном настольном дизайне, представляя собой полностью автоматизированные многофункциональные измерительные системы. Каждый микроскоп ZEM состоит из: * Модуля получения изображений (электронно-оптическая система с вольфрамовым катодом, камера образцов, высоковольтный блок, блок электроники, турбомолекулярный насос, детекторы электронов). * Отдельного мембранного вакуумного насоса. * Монитора. * Персонального компьютера со специализированным программным обеспечением для полного управления прибором.Инновационные решения для удобства работы
* Оптическая навигационная камера: Встроенная цифровая камера в камере образцов позволяет сделать снимок загруженного столика с образцом, что значительно упрощает последующую навигацию по исследуемой поверхности. * Прецизионный столик образцов: Столик оснащен моторизованным механизмом перемещения по осям X и Y, ручной регулировкой по оси Z и возможностью наклона образца, обеспечивая максимальную гибкость при позиционировании. * Интуитивное управление: Все режимы работы микроскопа легко настраиваются пользователем через удобное программное обеспечение.Метрологические характеристики и поверка
Микроскопы ZEM соответствуют высоким стандартам точности. Для обеспечения надежности измерений и соответствия нормативным требованиям, мы предлагаем услуги по **поверке** приборов. Уточните **метрологическую характеристику** интересующей вас модели при заказе.Заказать микроскоп ZEM
Мы предлагаем выгодные условия для того, чтобы **заказать** сканирующий электронный микроскоп ZEM. Узнайте актуальную **цену** и условия **доставки** по вашему региону. Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» гарантирует высокое качество оборудования и профессиональную поддержку. Для получения подробной консультации по выбору и приобретению микроскопов ZEM, пожалуйста, свяжитесь с нами: Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ruСчёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.