Микроскопы сканирующие зондовые НаноСкан-3Д
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков в заданных точках поверхности после индентирования с измеренной силой. Результаты измерений могут быть использованы для определения микротвердости в нанометровом диапазоне. Применяются при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Д: Ваш ключ к нанометровому миру
Откройте для себя возможности прецизионных измерений с микроскопом сканирующим зондовым НаноСкан-3Д – передовым решением для исследования топографии поверхности и механических свойств материалов на наноуровне. Этот прибор открывает новые горизонты в материаловедении, нанотехнологиях и контроле качества, позволяя получать детальную информацию о структуре и характеристиках образцов с беспрецедентной точностью. Если вам важна достоверность результатов и глубокое понимание микроструктуры, НаноСкан-3Д станет незаменимым инструментом в вашей лаборатории.Что такое НаноСкан-3Д?
Сканирующий зондовый микроскоп НаноСкан-3Д – это высокотехнологичная стационарная система, разработанная для детального анализа поверхности объектов. Его принцип работы основан на сканировании поверхности микроскопическим зондом, который регистрирует мельчайшие взаимодействия. Это позволяет не только визуализировать рельеф поверхности с нанометровым разрешением, но и получать карты распределения физико-механических и электрических свойств. Прибор способен работать в режиме нанотвердомера, создавая контролируемые микрорельефы и измеряя микротвердость материала.
Ключевые возможности и режимы работы
НаноСкан-3Д предлагает широкий спектр функциональных возможностей для комплексного исследования образцов:
- Топографические измерения: Получение детальных 3D-моделей поверхности с нанометровым пространственным разрешением.
- Измерение силы взаимодействия зонда: Точное определение силы, с которой зонд воздействует на поверхность в каждой точке сканирования.
- Анализ отпечатков индентирования: Измерение геометрических характеристик отпечатков, оставленных после воздействия зондом с заданной силой, что критически важно для определения механических свойств.
- Режим нанотвердомера: Создание контролируемых микрорельефов для определения микротвердости и других механических свойств.
- Динамическое воздействие зонда: Возможность высокочастотного воздействия зонда для исследования динамических свойств поверхности.
Микроскоп поддерживает следующие передовые режимы сканирующей зондовой микроскопии и измерений:
- Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (АСМ).
- Метод силовой спектроскопии для изучения механических свойств.
- Метод инструментального наноиндентирования.
- Идентирование и склерометрия: анализ механических свойств через исследование остаточных отпечатков и царапин.
Конструкция и комплектация
Система НаноСкан-3Д состоит из надежной рамы, прецизионной измерительной головки, современной управляющей электроники, набора высокочувствительных датчиков-кантилеверов и персонального компьютера для управления и анализа данных. Внешний вид прибора представлен на Рисунке 1.
В стандартный комплект поставки входят:
- Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Д - 1 шт.
- Плата управляющей электроники - 1 шт.
- Соединительный кабель - 1 шт.
- Сменные пьезокерамические зонды с алмазными иглами - 2 шт.
- Программное обеспечение на CD диске - 1 шт.
- Набор рельефных мер (TDG01, TGZ1, TGZ2) - 1 компл.
- Руководство по эксплуатации - 1 шт.
- Методика поверки - 1 экз.
Программное обеспечение: Надежность и безопасность
Программное обеспечение микроскопа надежно защищено встроенной памятью микроконтроллера, что гарантирует невозможность несанкционированного доступа и искажения результатов измерений. Идентификационные данные программного обеспечения, включая версии и контрольные суммы, представлены в Таблице 1.
Технические характеристики: Точность и производительность
Микроскоп НаноСкан-3Д обладает выдающимися метрологическими и техническими характеристиками, обеспечивающими высокую точность и надежность измерений:
Основные метрологические характеристики
- Измерения геометрической длины по осям X и Y: Диапазон от 0,02 до 90 мкм, пределы основной допускаемой погрешности ± (0,01 L + 5 нм).
- Измерения геометрической длины по оси Z: Диапазон от 0,004 до 9 мкм, пределы основной допускаемой погрешности ± (0,01 L + 4 нм).
- Воспроизведение силы прикладываемой нагрузки: Диапазон от 0 до 150 мН, пределы ± (0,01 F + 30 мкН).
Где L - измеряемое значение длины, F - воспроизводимое значение силы.
Основные технические характеристики
- Размеры образца: до 100х100 мм, высота до 80 мм.
- Максимальная масса образца: 2 кг.
- Масса основного блока: не более 60 кг.
- Напряжение питания: от 180 до 240 В.
Поверка и калибровка
Поверка микроскопа проводится в строгом соответствии с документом МП 41675-09 «Микроскопы сканирующие зондовые НаноСкан-3Д. Методика поверки». Для калибровки используются высокоточные средства поверки, включая меры периода линейные TDG01, TGZ1 и TGZ2, обеспечивающие воспроизведение эталонных значений с высокой точностью.
Рекомендации к применению
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Д идеально подходит для:
- Оценки соответствия продукции обязательным требованиям законодательства РФ о техническом регулировании.
- Научных исследований в области материаловедения, нанотехнологий, физики поверхности.
- Контроля качества изделий в высокотехнологичных отраслях промышленности.
Заказать НаноСкан-3Д с доставкой
Мы предлагаем выгодные условия на заказ микроскопа сканирующего зондового НаноСкан-3Д. Уточните цену и условия доставки по всей России. Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» гарантирует высокое качество оборудования и профессиональную поддержку.
Телефон: 8 (800) 511-77-51
E-mail: info@labcsm.ru
Если у вас возникли вопросы по метрологической характеристике прибора или вам нужна консультация по выбору оптимального решения для ваших задач, свяжитесь с нашими специалистами. Мы всегда готовы помочь вам сделать правильный выбор!
Счёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
