Микроскопы сканирующие зондовые Ntegra SPECTRA, Ntegra PRIMA, Ntegra VITA, Ntegra THERMA, Ntegra AURA, Ntegra MAXIMUS, Ntegra SOLARIS, Ntegra SOLARIS Duo, Ntegra TOMO, Ntegra LIFE
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурныхматериалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Сканирующие зондовые микроскопы Ntegra: Революция в наноисследованиях
Откройте для себя мир атомарного разрешения с семейством сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ) Ntegra. Эти передовые измерительные системы, разработанные для исследователей и инженеров, позволяют с беспрецедентной точностью изучать трехмерную топографию и микрорельеф поверхностей конденсированных сред. Независимо от того, работаете ли вы с проводящими или диэлектрическими материалами, Ntegra предоставит вам детальные изображения и точные данные, необходимые для научных открытий и технологических прорывов.Многофункциональность и универсальность Ntegra
Серия Ntegra включает в себя широкий спектр моделей: SPECTRA, PRIMA, VITA, THERMA, AURA, MAXIMUS, SOLARIS, SOLARIS Duo, TOMO и LIFE. Каждая модель представляет собой стационарную, автоматизированную и многофункциональную измерительную систему, способную работать как в режиме сканирующего туннельного микроскопа (СТМ), так и атомно-силового микроскопа (АСМ). Это достигается благодаря использованию разнообразных методик зондовой микроскопии, что делает приборы Ntegra универсальным инструментом для широкого круга задач.Принцип работы: СТМ и АСМ в деталях
* **Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ):** Основа работы СТМ — квантовый эффект туннелирования электронов. При подаче электрического смещения между острым зондом и проводящей поверхностью образца возникает туннельный ток. Детектирование этого тока позволяет получить информацию о топографии поверхности с атомным разрешением. * **Атомно-силовой микроскоп (АСМ):** АСМ измеряет силы взаимодействия между зондом и поверхностью образца. Путем поддержания постоянной силы взаимодействия с помощью обратной связи, система регистрирует положение острия зонда, что позволяет построить детальное трехмерное изображение топографии поверхности, применимое как к проводящим, так и к диэлектрическим материалам.Конструктивные особенности и удобство использования
Каждый микроскоп Ntegra состоит из набора измерительных головок, электронного блока и управляющего персонального компьютера. В АСМ используется чувствительный элемент — кантилевер из кремниевого монокристалла с микроиглой на конце. Для СТМ применяется металлическая игла из платиновых сплавов. * **Гибкость сканирования:** Заменяемые пьезосканеры обеспечивают работу в различных диапазонах. Использование емкостных датчиков минимизирует влияние нелинейности пьезосканера. * **Удобство эксплуатации:** Конструкция блока подвода и сканирования позволяет легко и быстро осуществлять ручной или автоматический подвод образца к зонду, устанавливать головки АСМ/СТМ без дополнительных приспособлений, а также менять сканеры и держатели образцов. * **Разнообразие сред:** Приборы позволяют проводить сканирование в различных условиях: на воздухе, в газовой и жидкой средах, а также в вакууме (опционально). * **Настольное исполнение:** Компактный дизайн настольных приборов с отдельным компьютером обеспечивает удобство размещения в лаборатории.Широкие возможности и модификации
Метрологические характеристики всех модификаций СЗМ Ntegra идентичны, однако их измерительные возможности различаются, что отражено в таблице ниже. Это позволяет подобрать оптимальную конфигурацию для конкретных исследовательских задач. | Модель | СБОМ | СТМ (атм.) | АСМ (атм.) | СТМ (вакуум) | АСМ (вакуум) | СТМ (жидкость) | АСМ (жидкость) | | :--------------- | :--- | :--------- | :--------- | :----------- | :----------- | :------------- | :------------- | | Ntegra SPECTRA | +++ | -- | ++++ | | | | | | Ntegra PRIMA | ++++ | +++++ | | | | | | | Ntegra VITA | ++++ | +++++ | | | | | | | Ntegra THERMA | -++ | -- | ++ | | | | | | Ntegra AURA | ++++ | +++++ | | | | | | | Ntegra MAXIMUS | ++++ | +++++ | | | | | | | Ntegra SOLARIS | +- | +- | + | ---- | | | | | Ntegra SOLARIS Duo | +- | +- | + | ---- | | | | | Ntegra TOMO | -- | +- | + | --- | + | | | | Ntegra LIFE | -- | + | --- | + | | | |Интеллектуальное программное обеспечение
Управление процессом измерений осуществляется с помощью современного программного обеспечения, установленного на PC-совместимый компьютер. ПО обеспечивает полную настройку прибора, оптимизацию параметров, управление режимами работы, выполнение сканирования, а также обработку и хранение результатов. Защита программного обеспечения от несанкционированных изменений гарантирует надежность и достоверность данных.Технические характеристики и метрологические возможности
Микроскопы Ntegra обладают выдающимися метрологическими характеристиками, обеспечивая высокую точность измерений. * **Диапазон измерений:** до 90 мкм в плоскости XY и до 10 мкм по оси Z. * **Погрешность:** ±1% в плоскости XY и ±5% по оси Z. * **Разрешение:** до 0.15 нм в плоскости XY и до 0.1 нм по оси Z. * **Дрейф:** минимальный дрейф в плоскости XY (не более 0.2 нм/с) и по оси Z (не более 0.15 нм/с). * **Размеры образцов:** до 100 мм в диаметре и 20 мм в толщину.Варианты комплектации и дополнительные опции
Базовый комплект поставки включает все необходимое для начала работы, включая различные измерительные головки, сканеры, защитный колпак и программное обеспечение. По заказу доступны расширенные опции, такие как: * Высокотемпературные и жидкостные СЗМ-головки. * Термостолики с возможностью нагрева до 300 °С. * Вакуумные СЗМ-головки. * Специализированные ячейки для работы в различных средах.Поверка и нормативная база
Поверка сканирующих зондовых микроскопов Ntegra осуществляется в соответствии с утвержденной методикой МП 28664-10. Для поверки используются сертифицированные средства, такие как меры периода и высоты линейные TGQ1, TGZ3 и линейно-угловая TGG1. Указанные технические условия (ТУ 4254-001-58699387-2010) и рекомендации по применению гарантируют соответствие продукции обязательным требованиям.Заказать микроскоп Ntegra с доставкой
Мы предлагаем выгодные условия на приобретение сканирующих зондовых микроскопов Ntegra. Уточните актуальную цену и условия доставки, связавшись с нашими специалистами. Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» гарантирует высокое качество продукции и профессиональную поддержку. **Для получения подробной консультации по выбору и заказу микроскопа Ntegra, пожалуйста, свяжитесь с нами:** Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ruСчёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
