Микроскопы сканирующие зондовые СмартСПМ-1000
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Микроскопы сканирующие зондовые СмартСПМ-1000: Откройте Мир Наноструктур с Беспрецедентной Точностью
В мире научных исследований и технологических разработок, где каждый микрон, а порой и нанометр, имеет значение, точность измерений становится ключевым фактором успеха. Микроскопы сканирующие зондовые СмартСПМ-1000 — это ваш надежный партнер в исследовании мельчайших деталей поверхности, открывающий новые горизонты в материаловедении, биологии, нанотехнологиях и многих других областях. Этот прибор позволяет визуализировать и анализировать структуру материалов с субнанометровым разрешением, работая как в воздушной среде, так и в жидких средах, что делает его универсальным инструментом для широкого спектра задач.Принцип работы и возможности
В основе работы СмартСПМ-1000 лежит инновационный принцип сканирования поверхности высокочувствительным зондом. Этот зонд, перемещаясь по исследуемому образцу, регистрирует различные физические параметры (например, силу взаимодействия, электрический потенциал), которые затем преобразуются в детальную трехмерную карту топографии поверхности. Такой подход обеспечивает не только высочайшую детализацию, но и возможность изучения свойств поверхности на молекулярном уровне.Многообразие режимов для комплексного анализа
СмартСПМ-1000 предлагает широкий спектр режимов сканирующей зондовой микроскопии, позволяя проводить всесторонний анализ образцов:- Атомно-силовая микроскопия (АСМ):
- Полуконтактный режим: идеален для исследования мягких и чувствительных образцов.
- Бесконтактный режим: минимизирует воздействие на поверхность, обеспечивая высокую точность.
- Контактный режим: подходит для изучения твердых материалов и определения механических свойств.
- Метод латеральных сил: Позволяет анализировать неоднородности поверхности и трение.
- Методика зонда Кельвина (КЭМ): Используется для картирования распределения поверхностного потенциала.
- Сканирующая емкостная микроскопия (СЭМ): Исследование локальной проводимости и диэлектрических свойств.
- Электросиловая микроскопия (ЭСМ): Анализ локальных электрических зарядов на поверхности.
Конструкция и комплектация
Система СмартСПМ-1000 представляет собой интегрированное решение, включающее:- Персональный компьютер для управления и анализа данных.
- Электронный блок управления, обеспечивающий точное позиционирование и сбор информации.
- Высокоточную измерительную головку.
- Набор держателей для кантилеверов (зондов).
- Набор держателей для образцов, обеспечивающих надежную фиксацию.
- Головку СЗМ (НЕ001)
- XYZ пьезосканер с емкостными датчиками обратной связи (S001)
- Автоматизированную систему подвода к образцу (АР001)
- Модульный, расширяемый цифровой контроллер (Al110)
- Персональный компьютер в сборе (РС001)
- Программное обеспечение, совместимое с Windows ХР (SW001)
- Набор кантилеверов (PS001)
- Калибровочные меры для точной настройки и поверки.
Ключевые технические характеристики
* Диапазон измерений по осям X и Y: 0-90 мкм * Диапазон измерений по оси Z: 0-12 мкм * Пределы допускаемой основной относительной погрешности измерений линейных размеров: ± 0,5% (по осям X, Y и Z) * Нелинейность по осям X и Y: 0,03% * Нелинейность по оси Z: 0,03% * Резонансная частота по XY (без нагрузки): 7 кГц * Резонансная частота по Z (без нагрузки): 15 кГц * Максимальные размеры образца: диаметр 40 мм, высота 15 мм * Масса: 25 кг * Напряжение питания: 220 В, 50 ГцМетрологическое обеспечение и поверка
Микроскопы сканирующие зондовые СмартСПМ-1000 соответствуют Техническим условиям ТУ 1706-001-98300415-08. Поверка прибора осуществляется в соответствии с документом МП 39221-08 «Микроскопы сканирующие зондовые СмартСПМ - 1000. Методика поверки», утвержденным ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС». Основными средствами поверки служат эталонные меры шероховатости по ГОСТ 8.296-78. Мы гарантируем высокое качество и точность измерений, подтвержденное соответствующей документацией.Применение и преимущества
СмартСПМ-1000 — это идеальное решение для: * Фундаментальных и прикладных научных исследований. * Разработки новых материалов и покрытий. * Контроля качества на производстве. * Исследований в области наноэлектроники и фотоники. * Биологических и медицинских исследований.Заказать микроскоп СмартСПМ-1000
Если вам необходим высокоточный инструмент для исследования наномира, микроскоп сканирующий зондовый СмартСПМ-1000 станет вашим лучшим выбором. Компания «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» предлагает выгодные условия на приобретение данного оборудования, включая оперативную доставку по всей России. Узнать актуальную цену и получить подробную консультацию по метрологической характеристике прибора можно, связавшись с нашими специалистами. Для получения более подробной информации о технических возможностях, условиях поставки и для оформления заказа, пожалуйста, свяжитесь с нами: Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru Наши эксперты готовы ответить на все ваши вопросы и помочь подобрать оптимальное решение для ваших исследовательских задач.Счёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
