Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT

Сканирующие зондовые микроскопы SOLVER NEXT: Революция в наноисследованиях

Откройте новые горизонты в изучении микромира с помощью сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ) SOLVER NEXT. Эти передовые измерительные системы открывают беспрецедентные возможности для детального анализа трехмерной топографии и микрорельефа поверхностей с атомарным разрешением. Незаменимые для исследователей и инженеров, SOLVER NEXT позволяют получать точнейшие данные о структуре материалов, что критически важно для развития современных технологий.

Области применения: Где SOLVER NEXT меняет правила игры

СЗМ SOLVER NEXT находят широкое применение в самых передовых отраслях науки и промышленности: * Нанотехнологии и микроэлектроника: Исследование и разработка новых наноматериалов, создание элементов микро- и оптоэлектроники. * Материаловедение: Анализ структуры и свойств полимеров, металлов, композитов. * Биотехнологии и фармацевтика: Изучение клеточных структур, разработка новых лекарственных препаратов, генная инженерия. * Микромеханика: Исследование и проектирование микроскопических механических систем. * Научные исследования и образование: Фундаментальные исследования в физике, химии, биологии, а также подготовка высококвалифицированных специалистов.

Принцип работы: Два мощных инструмента в одном

SOLVER NEXT — это универсальные автоматизированные измерительные комплексы, способные работать в двух ключевых режимах: * Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ): Использует квантовый эффект туннелирования электронов для формирования изображения проводящих поверхностей с атомной точностью. Принцип основан на измерении туннельного тока между острым зондом и образцом. * Атомно-силовая микроскопия (АСМ): Позволяет исследовать как проводящие, так и диэлектрические материалы. Измерение силы взаимодействия между зондом и поверхностью образца, с поддержанием постоянного уровня этой силы через систему обратной связи, дает возможность построить детальное трехмерное изображение рельефа.

Конструктивные особенности и комплектация

Базовая комплектация SOLVER NEXT включает все необходимое для старта исследований: * Электронный блок управления (СЗМ контроллер): Сердце системы, управляющее всеми процессами. * Базовый блок SOLVER NEXT: Содержит оптическую систему регистрации отклонений кантилевера, прецизионную систему сканирования, автоматическую юстировку, модули СТМ и АСМ, а также оптическую систему видеонаблюдения с моторизованным увеличением и точным позиционированием рабочей области (разрешение 3 мкм или 1 мкм). * Соединительные кабели: USB-кабель для связи с рабочей станцией, кабели для управления микроперемещателями и подключения головки. * Программное обеспечение NOVA-P9: Мощный инструментарий для получения, обработки и анализа изображений. * Расходные материалы: Наборы кантилеверов (измерительных зондов) и кремниевых решеток для калибровки. * Аксессуары: Подложка для крепления образцов и прочие рабочие принадлежности.

Преимущества SOLVER NEXT: Точность, надежность, удобство

* Высочайшая точность: Разрешение до 0.02 нм в плоскости XY обеспечивает беспрецедентную детализацию. * Универсальность: Поддержка режимов СТМ и АСМ для работы с различными типами образцов. * **Интуитивное управление:** Полностью автоматизированные процессы, простота замены зондов и установки образцов. * **Гибкость применения:** Возможность сканирования как в воздухе, так и в жидких средах. * **Низкошумящие датчики:** Минимизация влияния нелинейности пьезосканера для более точных измерений. * **Современное ПО:** Комплексное программное обеспечение NOVA-P9 для полного цикла работы с данными.

Технические характеристики: Цифры, говорящие сами за себя

| Параметр | Значение | | :------------------------------------------------------------ | :------------------------------------------ | | Диапазон измерений XY, мкм | 0 - 90 | | Диапазон измерений Z, мкм | 0 - 10 | | Пределы допускаемой относительной погрешности XY, % | ±1 | | Пределы допускаемой относительной погрешности Z, % | ±5 | | Разрешение XY, нм (не более) | 0.02 | | Разрешение XY с датчиками обратной связи, нм (не более) | 0.3 | | Нелинейность сканирования XY с датчиками обратной связи, % | 0.1 | | Максимальное число точек сканирования Nx x Ny | 4000 x 4000 | | Разрешающая способность оптической системы видеонаблюдения, мкм | 2 | | Дрейф XY, А/с (не более) | 2 | | Дрейф Z, А/с (не более) | 1.5 | | Габаритные размеры базового блока, мм (ДхШхВ) | 320x215x470 | | Масса базового блока, кг (не более) | 30 | | Время выхода на рабочий режим, мин (не более) | 5 | | Размеры исследуемых образцов (диаметр х толщина), мм (не более) | 20 х 7 | | Масса исследуемых образцов, г (не более) | 20 |

Поверка и метрологическое обеспечение

Микроскопы SOLVER NEXT проходят поверку в строгом соответствии с ГОСТ Р 8.630-2007. Межповерочный интервал составляет 1 год. Мы гарантируем полное метрологическое обеспечение приборов, что подтверждается соответствующими документами.

Заказать микроскоп SOLVER NEXT

Если вам необходимо получить точные данные о наноструктуре материалов, сканирующие зондовые микроскопы SOLVER NEXT станут вашим надежным партнером. Мы предлагаем выгодные условия на приобретение оборудования, включая оперативную доставку по всей России. Свяжитесь с нами, чтобы узнать актуальную цену и получить профессиональную консультацию.

Свяжитесь с нами

Команда «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» готова ответить на все ваши вопросы и помочь подобрать оптимальное решение для ваших исследовательских задач. Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru Мы уверены, что сканирующие зондовые микроскопы SOLVER NEXT помогут вам достичь новых высот в ваших научных и промышленных проектах.

[HYDRA_UPDATED]