Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47

Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47: Откройте мир наноструктур с беспрецедентной точностью

Представляем вам сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ) Solver P47 – передовое решение для детального исследования нанорельефа поверхностей. Если ваша работа связана с микро-, опто-, наноэлектроникой, нанотехнологиями, материаловедением или фармацевтикой, этот прибор станет незаменимым инструментом для достижения выдающихся результатов. Solver P47 позволяет проводить количественный морфологический анализ и с абсолютной точностью измерять мельчайшие элементы структуры – от периода и шага до ширины и высоты ступеней. Благодаря атомарному разрешению, вы сможете увидеть и измерить даже самые незначительные особенности поверхности образцов из проводников, полупроводников и диэлектриков.

Ключевые области применения:

* Научные исследования: от фундаментальной физики и химии до передовых разработок в области наноматериалов. * Промышленное производство: контроль качества в микроэлектронике, производстве полимеров, создании запоминающих сред. * Биотехнологии и медицина: фармацевтика, микробиология, генная инженерия. * Образовательные учреждения: обучение студентов и аспирантов работе с современным аналитическим оборудованием.

Инновационные технологии для точных измерений

Принцип работы СЗМ Solver P47 основан на высокоточном сканировании поверхности образца относительно зонда (иглы), закрепленного на гибком кантилевере. Микроскоп функционирует в воздушной среде, предлагая два основных режима атомно-силовой микроскопии (АСМ): * Контактный режим: В этом режиме кантилевер деформируется под действием сил взаимодействия между атомами зонда и поверхности образца. Лазерный луч, отражаясь от кантилевера, попадает на фотодетектор, позволяя с помощью оптически-позиционного метода фиксировать мельчайшие отклонения. Компьютер обрабатывает эти данные, создавая детальную топографическую карту поверхности. * Прерывисто-контактный (динамический) режим: Здесь кантилевер приводится в колебание с использованием пьезокерамической пластины. Система отслеживает изменения резонансной частоты или амплитуды колебаний, поддерживая их постоянными с помощью контура обратной связи. Это позволяет получать топографическое изображение, основанное на величине напряжения, подаваемого на сканер, аналогично режиму постоянной силы.

Гибкость и универсальность для любых задач

Solver P47 выделяется благодаря возможности использования различных измерительных головок (ИГ), что обеспечивает проведение комплексных атомно-силовых (АСМ) и сканирующих туннельных (СТМ) исследований без необходимости снимать образец. Весь спектр доступных методик активируется простым программным конфигурированием, исключая необходимость ручных переключений.

Преимущества Solver P47:

* Всесторонние исследования: Возможность сканирования как образцом, так и зондом, а также комбинированное сканирование. * Разнообразие сред: Работа в воздушной, газовой и жидкой средах. * **Интуитивное управление:** Оригинальная конструкция блока подвода и сканирования обеспечивает легкий ручной и автоматический подвод образца, быструю установку измерительных головок и простую замену компонентов. * Высокая точность позиционирования: Диапазон позиционирования образца 5x5 мм с погрешностью до 5 мкм. * **Анализ динамических характеристик:** АСМ головки регистрируют изгиб, закручивание, амплитуду, фазу и частоту колебаний кантилевера, а также ток в системе зонд-образец. * Масштабируемость: Заменяемые сканеры с диапазонами сканирования 10x10x2.0 мкм и 40x40x3.0 мкм. * Атомарное разрешение: Достигается благодаря 22-разрядным АЦП и низкому уровню шума по оси Z (0.2 нм).

Технические характеристики, гарантирующие превосходство:

| Параметр | Значение | | :------------------------------------------- | :------------------------------------------ | | Диапазон измерений XY, мкм | 0-10 (поддиапазон А), 0-40 (поддиапазон Б) | | Диапазон измерений Z, мкм | 0-2.5 | | СКО результатов измерений XY, % | не более 1 | | СКО результатов измерений Z, % | не более 5 | | Разрешение XY, нм | не более 2 | | Разрешение Z, нм | не более 0.18 | | Нелинейность сканирования XY, % | не более 6 | | Неортогональность сканера Z, градус | не более 5 | | Неортогональность сканера XY, градус | не более 2 | | Максимальное число точек сканирования X/Y | 4000x4000 | | Размеры исследуемых образцов (диаметр х толщина), мм | не более 100 х 20 | | Питание, В | 220 (+10/-15 %) | | Потребляемая мощность, Вт | не более 80 | | Габариты электронного блока, мм | 445x160x500 | | Габариты СЗМ, мм | 250x320x470 | | Масса электронного блока, кг | 12 | | Масса прибора (полная комплектация без ЭБ), кг | 40 |

Условия эксплуатации:

* Температура окружающей среды: 20 ±5 °C * Относительная влажность (при 25°C): не более 65 ±15 % * Атмосферное давление: 760 ±30 мм рт.ст. * Дрейф температуры: не более 0.5 °C в час * Амплитуда вибраций (в полосе частот 1-1000 Гц): не более 0.5 мкм

Комплектность поставки:

Стандартный комплект поставки включает: * Заменяемый сканер X,Y, Z (10 мкм х 10 мкм х 2.0 мкм ±10%) * Заменяемый сканер X,Y, Z (40 мкм х 40 мкм х 3.0 мкм ±10%) * Универсальная АСМ головка (сканирование образцом) * Универсальная сканирующая СЗМ головка SMENA * Юстировочный столик для АСМ-резонансной моды * Основание Solver Pro с системой моторизованного подвода * Защитный колпак * Электронный блок управления (вертикальная модификация) * PCI плата сопряжения и интерфейсный кабель * Программное обеспечение для получения и обработки изображений * Набор кантилеверов (измерительных зондов)

Поверка и метрологическое обеспечение

Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47 проходят поверку в соответствии с ГОСТ Р 8.630-2007. Межповерочный интервал составляет 1 год. Мы гарантируем соответствие заявленным метрологическим характеристикам.

Заказать микроскоп Solver P47

Если вам необходим высокоточный инструмент для исследования наноструктур, сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 – ваш выбор. Свяжитесь с нами, чтобы узнать актуальную цену, условия доставки и получить профессиональную консультацию. Специалисты компании «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» помогут подобрать оптимальную конфигурацию для ваших задач. Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru Мы готовы ответить на все ваши вопросы и помочь вам сделать правильный выбор для развития вашего научного или производственного потенциала.

[HYDRA_UPDATED]