Система микроскопической инспекции FEI Helios G4 CX

FEI Helios G4 CX: Прецизионная Микроскопическая Инспекция для Ваших Исследований

Откройте новые горизонты в анализе нано- и микроструктур с системой микроскопической инспекции FEI Helios G4 CX. Этот передовой прибор разработан для точных измерений линейных размеров в плоскости XY, предоставляя исследователям и инженерам беспрецедентные возможности для изучения поверхностей самых разнообразных объектов. Если вам требуется высочайшая точность и детальное понимание микромира, FEI Helios G4 CX станет вашим незаменимым инструментом.

Принцип работы и ключевые особенности

В основе работы FEI Helios G4 CX лежит фундаментальный принцип взаимодействия сфокусированного электронного пучка с поверхностью исследуемого образца. Сканирование электронным пучком позволяет формировать детализированное изображение объекта, раскрывая его структуру на микроскопическом уровне.

Состав системы:

* Электронная колонна: Сердце системы, включающее источник электронов, прецизионную систему фокусировки и отклонения пучка (с использованием электромагнитных, электростатических или комбинированных линз) и набор апертур для формирования изображения. * Ионная колонна: Обеспечивает фокусировку и перемещение ионного пучка по поверхности образца, дополняя возможности электронной колонны. * Вакуумная система: Комплекс форвакуумных, турбомолекулярных и ионно-гетерных насосов, а также система клапанов, гарантирующие создание и поддержание необходимого уровня вакуума (высокого, низкого или естественной среды) для стабильной работы. * Набор детекторов: Разнообразные детекторы позволяют получать изображения в различных режимах контраста (топографический, композиционный, смешанный, низкоэнергетические электроны), а также предоставляют ценную информацию об элементном, фазовом и кристаллографическом составе поверхности. * Управляющая электроника: Интеллектуальный центр, обеспечивающий слаженную работу всех компонентов системы и сбор данных с детекторов. * Рабочее место оператора: Включает персональный компьютер с интуитивно понятным интерфейсом для управления, настройки и анализа данных.

Гибкость и точность измерений

FEI Helios G4 CX позволяет получать детальную информацию о топографии, вариациях состава, а также механических и электрофизических параметрах поверхности. Управление системой осуществляется максимально просто — с помощью стандартных мыши и клавиатуры. Все полученные данные и изображения могут быть выведены на монитор или сохранены для дальнейшего анализа. Образцы надежно фиксируются в вакуумной камере с помощью специальных держателей.

Программное обеспечение: Интеллектуальный контроль и анализ

Система оснащена специализированным программным обеспечением «xTm Microscope Control», разработанным для выполнения конкретных измерительных задач. Это ПО обеспечивает полное управление прибором, создание измерительных программ и комплексную обработку результатов. * Безопасность и целостность данных: Конструкция системы исключает несанкционированное вмешательство в работу ПО и измерительную информацию. Метрологически значимая часть ПО и измеренные данные надежно защищены от преднамеренных изменений. * Защита от пиратства: Встроенный менеджер лицензий с 128-битным шифрованием AES привязывает ПО к аппаратному идентификатору компьютера и серийному номеру системы, предотвращая неавторизованное использование. * Ограниченный доступ оператора: Оператор не имеет прав на модификацию системных файлов или установку стороннего ПО, что гарантирует стабильность и надежность работы системы. * Уровень защиты: Соответствует стандарту Р 50.2.077-2014 как «средний» уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений.

Идентификационные данные ПО:

* Наименование: xTm Microscope Control * Версия: не ниже 12.1.1

Технические характеристики: Точность, на которую можно положиться

Система FEI Helios G4 CX обладает выдающимися метрологическими характеристиками, гарантирующими достоверность результатов.

Метрологические характеристики:

* Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY: от 0,01 мкм до 500 мкм. * Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений в плоскости XY: * от 0,01 мкм до 100 мкм включительно: ±(0,002 + 3*L/100) мкм, где L – измеряемый размер в мкм. * свыше 100 мкм до 500 мкм: ±(0,002 + 5*L/100) мкм. Заводской номер системы (например, зав. № 9925578) нанесен на корпус. Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

Заказать FEI Helios G4 CX с доставкой

Если вам необходима система микроскопической инспекции высочайшего класса, обратитесь в «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ». Мы предлагаем выгодные условия на приобретение оборудования, включая удобную доставку по всей стране. Узнайте актуальную цену и получите профессиональную консультацию по всем вопросам. Для получения более подробной информации о системе FEI Helios G4 CX, ее метрологических характеристиках или для оформления заказа, пожалуйста, свяжитесь с нами. Наши специалисты готовы предоставить исчерпывающую консультацию и помочь подобрать оптимальное решение для ваших задач. Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ru

[HYDRA_UPDATED]