Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый IMS-7f
Для измерений массы вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов. Прибор применяется для контроля дозы имплантации, измерений глубин р-n переходов, разработки технологических процессов, послойного элементного анализа в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый IMS-7f: Ваш ключ к прецизионному анализу материалов
Откройте новые горизонты в исследовании материалов с масс-спектрометром вторично-ионным микрозондовым IMS-7f. Этот передовой прибор, разработанный для высокоточных измерений, позволяет детально анализировать состав и структуру объектов на микроскопическом уровне. Благодаря уникальной технологии послойного травления и анализу вторичных ионов, IMS-7f становится незаменимым инструментом для контроля качества, разработки новых материалов и решения сложных научных задач.Применение IMS-7f: Широкий спектр возможностей
Масс-спектрометр IMS-7f находит применение в самых разнообразных областях, где требуется высочайшая точность анализа:- Контроль дозы имплантации в полупроводниковой промышленности.
- Измерение глубины p-n переходов для оптимизации электронных компонентов.
- Разработка передовых технологических процессов в материаловедении.
- Послойный элементный анализ:
- Материаловедение
- Микроэлектроника и полупроводниковые технологии
- Геология
- Биология и медицина
- Металлургия
Принцип работы: Взгляд вглубь материала
В основе работы IMS-7f лежит явление вторичной ионной эмиссии. Поверхность исследуемого образца подвергается бомбардировке первичными ионами (например, Cs+ или O2+). В результате этого взаимодействия происходит каскад столкновений, приводящий к эмиссии атомов из приповерхностных слоев. Часть этих атомов приобретает заряд, становясь вторичными ионами. Далее, вторичные ионы разделяются по соотношению массы к заряду с помощью масс-сепаратора с двойной фокусировкой, а затем регистрируются высокочувствительной системой детектирования. Этот процесс позволяет с высокой точностью определить элементный состав и пространственное распределение элементов в образце.Конструкция и управление: Инновации в каждой детали
IMS-7f представляет собой комплексное решение, включающее:- Ионную пушку для генерации первичного ионного пучка.
- Камеру распыления, где происходит взаимодействие ионов с образцом.
- Масс-сепаратор для точного разделения вторичных ионов.
- Регистрирующую систему для сбора данных.
- Вакуумную систему, обеспечивающую оптимальные условия для анализа.
- Систему управления, интегрированную с рабочим столом и управляющим компьютером.
Ключевые технические характеристики
Основные метрологические характеристики масс-спектрометра IMS-7f:
- Диапазон измерений массы вторичных ионов:
- При напряжении на образце 5 кВ: не менее 460 а.е.м.
- При напряжении на образце 10 кВ: не менее 230 а.е.м.
- Пределы допускаемой погрешности измерений массы: ±(0,1 + Мном·10⁻³) а.е.м. (для положительных и отрицательных вторичных ионов).
- Максимальное масс-спектральное разрешение: не менее 25000.
- Ускоряющее напряжение первичных ионов:
- Cs+: от 1 до 10 кВ
- O2+: от 1,1 до 15 кВ
- Максимальный ток ионов:
- Cs+ (10 кВ): не менее 1 мкА
- O2+ (15 кВ): не менее 7 мкА
- O2+ (1,1 кВ): не менее 100 нА
- Геометрические размеры исследуемых образцов: до 24 мм (диаметр) x 3 мм (толщина).
- Потребляемая мощность: не более 9,9 кВт.
- Масса прибора: 1430 кг.
- Габаритные размеры:
- Физическая часть: 2240x2080x1550 мм
- Электронная стойка: 600x900x1950 мм
Условия эксплуатации и поверка
Прибор предназначен для работы в стандартных лабораторных условиях:- Температура: 20 ± 1 °C
- Атмосферное давление: 101 ± 1,4 кПа
- Относительная влажность: 70 ± 5 %
- Напряжение питания: 230 ± 10 В, 50 ± 15 Гц
- Допустимые вибрации и внешние магнитные поля минимизированы для обеспечения стабильности измерений.
Комплектность и нормативная база
В комплект поставки масс-спектрометра IMS-7f входят: сам прибор, комплект запасных частей, инструмента и принадлежностей (ЗИП), расходные материалы и полный пакет технической документации от производителя. Тип прибора утвержден с соответствующими техническими и метрологическими характеристиками, что подтверждается знаком утверждения типа.Заказать IMS-7f: Ваш шаг к передовым исследованиям
Если вам необходим высокоточный инструмент для анализа материалов, масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый IMS-7f – это оптимальное решение. Мы предлагаем не только само оборудование, но и полный спектр услуг, включая консультации, помощь в подборе, доставку и последующее сервисное обслуживание. Узнайте актуальную цену и условия приобретения, связавшись с нами. «ЦЕНТР ЛАБОРАТОРНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ» готов предложить вам лучшие решения для вашей лаборатории. Мы поможем вам заказать IMS-7f и обеспечить его бесперебойную работу. Для получения подробной консультации по масс-спектрометру IMS-7f, обсуждения ваших задач и получения индивидуального предложения, пожалуйста, свяжитесь с нами: Телефон: 8 (800) 511-77-51 E-mail: info@labcsm.ruСчёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
