Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.
Дифрактометры рентгеновские XD-2 (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции и последующего анализа углового распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных на поликристаллических объектах при решении задач рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа материалов в виде порошков, пленок, твердых образцов и гелей.
Дифрактометры рентгеновские Колибри (далее - дифрактометры) предназначены для измерений интенсивностей и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного трехмерной периодической кристаллической решеткой, при решении различных задач рентгенодифракционного анализа широкого круга неорганических и органических кристаллических материалов.
Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях
Интерферометры ^Phase моделей PLANO DOWN, PLANO/ SPHERO UP, ST+R, VERTICAL, UNIVERSAL (далее по тексту - интерферометры) предназначены для измерений двумерной карты высоты профиля поверхности (топограммы) отражающих объектов относительно начальной точки, выбираемой оператором, в микро- и нанодиапазоне.
Дифрактометры рентгеновские Arex-D (далее по тексту-дифрактометры) предназначены для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения отраженного от объекта, содержащего кристаллические структуры при решении задач рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа материалов.
Для аттестации объемной доли метана в метановоздушных смесях
Для прецизионного контроля угла среза монокристаллов путем косвенного измерения отклонения угла среза моно-кристалла относительно угла среза стандартного образца
Дифрактометр рентгеновский переносной «Уран» предназначен для измерений углов дифракции, возникающих при воздействии сколимированного рентгеновского излучения на анализируемый объект, с целью определения уровня механических напряжений и деформаций в различных деталях и изделиях.
Для измерения углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины исследуемого поликристаллического образца с целью определения его фазового состава. Область применения: отрасли промышленности - горнодобывающие, химические, металлургические, машиностроительные, строительные; фармацевтика; криминалистика; научно-исследовательские и заводские лаборатории.
Двухэлементный радиоинтерферометр на узлах колокации - «ДР УК» (далее - ДР УК) предназначен для измерений параметров сигналов от внегалактических радиоисточников, привязки полученных результатов измерений к земной системе координат ITRF и синхронизации со шкалой времени UTC(SU).
Дифрактометры рентгеновские монокристальные D8 QUEST предназначены для измерения параметров структур монокристаллов с заданными свойствами, определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов.
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для измерения углового положения линий дифракционного спектра исследуемого образца на промышленных предприятиях, в научно-исследовательских институтах, геологоразведке, криминалистике, фармакологии, обеспечении учебного процесса в ВУЗах.
Для измерения температурных относительных объемных деформаций с целью ускоренного определения морозостойкости строительных материалов дилатометрическим методом в соответствии с ГОСТ 10060.3. Область применения - контроль морозостойкости строительных материалов на предприятиях стройиндустрии, объектах строительства, в учебных и исследовательских институтах и испытательных лабораториях.
Дифрактометры рентгеновские Equinox предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте и относительной интенсивности дифракционных пиков (максимумов отражения) при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей