Дифрактометры рентгеновские TD (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения методом рентгеновской дифракции.
Дифрактометры рентгеновские D8 ADVANCE (далее по тексту - дифрактометры) предназначены для измерения параметров кристаллической решетки и исследования твердых веществ методом порошковой дифрактометрии.
Дифрактометры рентгеновские D8 ENDEAVOR (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллической решетке, параметров кристаллической решетки, а также для определения фазового состава кристаллических веществ методом рентгеновской дифракции в соответствии с аттестованными (стандартизованными) методиками (методами) измерений (при использовании в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений).
Дифрактометры рентгеновские Equinox предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте и относительной интенсивности дифракционных пиков (максимумов отражения) при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Дифрактометр рентгеновский «MiniFlex 600» (далее - дифрактометр) предназначен для измерений зависимости интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей от угла дифракции.
Дифрактометры рентгеновские SmartLab (далее - дифрактометры) предназначены для измерений параметров кристаллической решетки на основе измерений и последующего анализа углового распределения интенсивности рентгеновских лучей, дифрагированных на кристаллической решетке, а также определения фазового состава кристаллических веществ.
Для измерения угловых положений дифракционных максимумов, для определения кристаллографической ориентации монокристаллических пластин, предназначенных для изготовления изделий электронной техники и их сортировки по углу среза.
Дифрактометры рентгеновские настольные «MiniFlex 600», предназначенные для определения фазового состава кристаллических веществ (далее дифрактометры) на основе измерений распределения интенсивности рентгеновских лучей, отраженных от анализируемого вещества и последующего анализа профилей брэгговских отражений в дифракционной картине.
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определять качественный и количественный фазовый состав и структуру твердых тел, параметры элементарной ячейки, микронапряжения в кристаллах, посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленностях, а также анализа объектов окружающей среды.
Дифрактометры рентгеновские POWDIX (далее - дифрактометры) предназначены для измерения интенсивностей и углов дифракции рентгеновского излучения на поликристаллических объектах с целью решения задач рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа поликристаллических материалов в виде порошков, пленок, твердых образцов, гелей и жидкостей.
Дифрактометры рентгеновские CubiX 3 (далее - дифрактометры) предназначены для измерений интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Дифрактометры рентгеновские портативные ДРП (далее по тексту - дифрактометры) предназначены для измерений угловых положений дифракционных пиков (максимумов), возникающих от воздействия направленного на анализируемый объект сфокусированного рентгеновского излучения.
Для регистрации дифракционных максимумов, измерения углов 2? и анализа дифракционных картин, получаемых в результате дифракции рентгеновских лучей на узлах кристаллической решетки. Основными задачами являются качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических образцов . Объектамиисследования являются порошковые и монолитные образцы минералов, металлов и сплавов, керамики, огнеупоров и других материалов, имеющих кристаллическую структуру.
Дифрактометры рентгеновские Ultima IV (далее - дифрактометры) предназначены для изучения фазового качественного, количественного состава материала, определения параметров и индексов решетки, определения степени кристалличности, определения микронапряжений.
Для измерения углов (угловых перемещений) блока детектирования и интенсивности дифракционных пиков, по которым определяются параметры кристаллической решетки, качественный и количественный фазовый состав веществ в лабораториях научно-исследовательских институтов, заводских химических, физических, материаловедческих лабораториях; экспертных криминалистических, экологических, геологических лабораториях стационарного или передвижного типа.
Дифрактометры рентгеновские монокристальные D8 VENTURE предназначены для измерения параметров структур монокристаллов с заданными свойствами, определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов.
Дифрактометр рентгеновский DDCOM (далее - дифрактометр) предназначен для измерений углов дифракции и параметров ориентации кристаллов, характеризующихся малыми индексами ориентации (например, 001, 110 и 111).