Интерферометры OptoTl 60/125 (далее - интерферометры) предназначены для измерений отклонений от плоскостности и отклонений от сферичности поверхностей оптических деталей.
Гриндометр по Хегману модели 232 (далее - гриндометр) предназначен для измерений размера частиц лакокрасочных материалов при определении степени перетира.
Интерферометры OptoTL-250/300 (далее - интерферометры) предназначены для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей. В случае применения в качестве эталона 4-го разряда, применяются для поверки мер отклонений от плоскостности размером до 280 мм.
Мера плоская для поверки интерферометров для измерений параметров отклонений от плоскостности (далее по тексту - мера) предназначена для передачи единицы длины в области измерений параметров отклонений от плоскостности и проведения поверки интерферометров, измеряемых плоские оптические поверхности диаметром до 30 мм.
Дилатометры горизонтальные с толкателем DIL 402 Expedis модификаций DIL 402 Expedis Classic, DIL 402 Expedis Select, DIL 402 Expedis Supreme (далее - дилатометры) предназначены для измерений линейных приращений и температурного коэффициента линейного расширения (далее -ТКЛР) твердых, пастообразных, порошкообразных и жидких материалов.
Разрешена установочная серия до 01.01.1980 г. 10 шт.
Для измерения координат точек петли гистерезиса материала объекта контроля, измерения и допускового контроля коэрцитивной силы, размагничивающего тока, магнитного потока и напряжения Холла объекта контроля в условиях эксплуатации, соответствующих: по устойчивости к климатическим воздействиям группе 3 по ГОСТ 22261-94, по устойчивости к механическим воздействиям группе 4 по ГОСТ 2261-94 на предприятиях и организациях черной металлургии, машиностроении, транспорта, проводящих контроль механических свойств изделий из конструктивных сталей и сплавов по их магнитным характеристикам.
Для измерений наружных размеров методом сравнения с мерой, специальное программно-математическое обеспечение "BUVER v.5.1" позволяет производить автоматизированную поверку концевых мер длины 2, 3 и 4-го разрядов и классов точности 1...5 в диапазоне 0,1...100 мм, применяются в метрологических службах производственных корпораций, предприятий и фирм.
Интерферометры OptoTL-250 (далее - интерферометры) предназначены для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей.
Для измерения задней вершинной рефракции и призматического действия стигматических и астигматических очковых линз; нанесения положения оптического центра у стигматических очковых линз; нанесения направления главных сечений у астигматических и призматических очковых линз, применяются на заводах-изготовителях очковой оптики, в местах отпуска очков населению и в лабораториях контактной коррекции зрения.
Коэрцитиметр-структуроскопы портативные КСП-01 (далее - коэрцитиметры) предназначены для измерения коэрцитивной силы на локальных участках изделий из ферромагнитных материалов.
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для контроля оптических параметров корригирующих очков и правильности их изготовления. С их помощью измеряют заднюю вершинную рефракцию и призматическое действие очковых линз всех типов, маркируют оптический центр линзы, положения главного сечения с наименьшей рефракцией у астигматических линзи направление главного сечения у призматических линз. Применяются в салонах "Очковая оптика" при приеме и отпуске очков населению, при изготовлении очковых линз, сборке очков и в глазных кабинетах, где производится подбор корригирующих очков.
Дилатометры с толкателем L - series (далее - дилатометры) предназначены для измерений линейных приращений образцов в условиях тепловых нагрузок.
Структуроскопы магнитные КРМ-Ц-К2М (далее по тексту - структуроскопы) предназначены для измерения коэрцитивной силы локального участка ферромагнитных материалов.
Дифрактометры рентгеновские EMMA (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для использования в качестве рабочего эталона второго разряда в соответствии с "Локальной поверочной схемой для средств измерений вершинной рефракции и призматического действия очковых линз и призм" Р 50.2.055-2007 и обеспечивает передачу размера единиц вершинной рефракции очковых линз (диоптрия, дптр) и призматического действия очковых призм (призматическая диоптрия, пр дптр) рабочим средствам измерения - диоптриметрам, методом прямых измерений. Для определения метрологических характеристик отечественных и импортных диоптриметров при проведении их первичной и периодической поверки,калибровки, ремонта. Применяется в соответствии с методами и средствами поверки МИ 1396-86, МИ 339-83 на отечественные диоптриметры, ГОСТ Р 50606-93 на импортные диоптриметры, и другими утвержденными документами по поверке диоптриметров. Для применения органами государственного метрологическогоконтроля и надзора и ремонтными организациями.