Дифрактометр рентгеновский «MiniFlex 600» (далее - дифрактометр) предназначен для измерений зависимости интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей от угла дифракции.
Дифрактометры рентгеновские портативные ДРП (далее по тексту - дифрактометры) предназначены для измерений угловых положений дифракционных пиков (максимумов), возникающих от воздействия направленного на анализируемый объект сфокусированного рентгеновского излучения.
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определять качественный и количественный фазовый состав и структуру твердых тел, параметры элементарной ячейки, микронапряжения в кристаллах, посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленностях, а также анализа объектов окружающей среды.
Дифрактометр рентгеновский DDCOM (далее - дифрактометр) предназначен для измерений углов дифракции и параметров ориентации кристаллов, характеризующихся малыми индексами ориентации (например, 001, 110 и 111).
Для регистрации дифракционных максимумов, измерения углов 2? и анализа дифракционных картин, получаемых в результате дифракции рентгеновских лучей на узлах кристаллической решетки. Основными задачами являются качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических образцов . Объектамиисследования являются порошковые и монолитные образцы минералов, металлов и сплавов, керамики, огнеупоров и других материалов, имеющих кристаллическую структуру.
Дифрактометры рентгеновские Ultima IV (далее - дифрактометры) предназначены для изучения фазового качественного, количественного состава материала, определения параметров и индексов решетки, определения степени кристалличности, определения микронапряжений.
Для измерения углов (угловых перемещений) блока детектирования и интенсивности дифракционных пиков, по которым определяются параметры кристаллической решетки, качественный и количественный фазовый состав веществ в лабораториях научно-исследовательских институтов, заводских химических, физических, материаловедческих лабораториях; экспертных криминалистических, экологических, геологических лабораториях стационарного или передвижного типа.
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для экспрессного автоматического измерения деформации sin 2f-методом в поверхностных слоях крупногабаритных металлических конструкций произвольной формы и размеров
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения прецизионного рентгеноструктурного анализа (методом рентгеновской дифракции) в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического и др.), научно-исследовательских и учебных институтов.