Интерферометры OptoTL-60/120 (далее - интерферометры) предназначены для измерения отклонения от плоскостности оптических поверхностей, имеющих шероховатость обработки поверхности не ниже Rz 0,1 мкм по ГОСТ 2789-73.
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных поверхностей в отраслях, связанных с изготовлением оптических и прецизионных поверхностей
Интерферометры оптические ЛОМИ - 2 (далее интерферометры) предназначены для измерения размеров и перемещений в нанометровом диапазоне при проведении исследовательских работ, контрольных операций, испытаниях, поверке и калибровке средств воспроизведения перемещений нанометрового диапазона.
Интерферометры «PhSh» (далее - интерферометры) предназначены для бесконтактных измерений геометрических величин профиля оптических поверхностей и последующего вычисления параметра отклонения от плоскостности оптических поверхностей для производственного оптического контроля.
Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.
Интерферометры ^Phase моделей PLANO DOWN, PLANO/ SPHERO UP, ST+R, VERTICAL, UNIVERSAL (далее по тексту - интерферометры) предназначены для измерений двумерной карты высоты профиля поверхности (топограммы) отражающих объектов относительно начальной точки, выбираемой оператором, в микро- и нанодиапазоне.
Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях
Для аттестации объемной доли метана в метановоздушных смесях
Двухэлементный радиоинтерферометр на узлах колокации - «ДР УК» (далее - ДР УК) предназначен для измерений параметров сигналов от внегалактических радиоисточников, привязки полученных результатов измерений к земной системе координат ITRF и синхронизации со шкалой времени UTC(SU).
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей