Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.
Для аттестации объемной доли метана в метановоздушных смесях
Интерферометры «PhSh» (далее - интерферометры) предназначены для бесконтактных измерений геометрических величин профиля оптических поверхностей и последующего вычисления параметра отклонения от плоскостности оптических поверхностей для производственного оптического контроля.
Прибор интерферометрический неравноплечий КП-109 (далее по тексту -интерферометр) предназначен для измерений отклонений от сферичности оптических поверхностей.
Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях
Интерферометры ^Phase моделей PLANO DOWN, PLANO/ SPHERO UP, ST+R, VERTICAL, UNIVERSAL (далее по тексту - интерферометры) предназначены для измерений двумерной карты высоты профиля поверхности (топограммы) отражающих объектов относительно начальной точки, выбираемой оператором, в микро- и нанодиапазоне.
Интерферометр OWI 300 Plan (далее - интерферометр) предназначен для измерений отклонений от плоскостности прецизионных поверхностей оптических деталей.
Двухэлементный радиоинтерферометр на узлах колокации - «ДР УК» (далее - ДР УК) предназначен для измерений параметров сигналов от внегалактических радиоисточников, привязки полученных результатов измерений к земной системе координат ITRF и синхронизации со шкалой времени UTC(SU).
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей
Разрешена установочная серия