Микроскопы видеоизмерительные MM1 Garant (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы и конфигурации; метчиков (диаметра, шага и угла профиля резьбы); резьбовых калибров (шага, угла профиля, прямолинейности профиля и внутреннего диаметра); конусных калибров, цилиндрических и конусных втулок; расстояний между центрами отверстий в цехах и измерительных лабораториях предприятий машиностроения, приборостроения, микроэлектроники, лабораториях институтов.
Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM с системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондо-вого рентгеноспектрального микроанализа и регистрации и анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов.
Микроскопы конфокальные pSurf (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений шероховатости и линейных размеров (микрогеометрии) поверхности изделий в области оптического производственного контроля.
Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
Микроскопы измерительные ИМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.
Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (модификации JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.
Микроскоп атомно-силовой Veeco Dimension 3100 (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерения линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Разрешен серийный выпуск до 01.01.1988
Микроскопы видеоизмерительные Garant серии MM-OS (далее микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Для измерения расстояния между отдельными деталями, например, между штрихами и точками объекта, а также для измерения линейных размеров мелких предметов
Для измерений линейных размеров элементов топологии и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе и измерений массовой доли элементов в составе объектов методом рентгеновского микроанализа в режимах высокого вакуума и низкого вакуума без специальной подготовки непроводящих объектов, применяются в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, металлургии, геологии, биологии, медицине, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.
Для измерения геометрических расстояний и размеров элементов тонкой субмикронной структуры твердотельных материалов. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а так же в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организациях.