ИК-фурье микроскопы моделей Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX (далее по тексту -приборы) предназначены для измерения содержания различных органических и неорганических веществ в твердых, жидких и газообразных образцах, продуктах питания, почвах, волокнах, полимерах, нефтепродуктах, фармацевтических препаратах и т.д. по спектрам поглощения в инфракрасной области спектра в соответствии с аттестованными и стандартизованными методами (методиками) измерений.
Микроскопы инвертированные AXIO Observer.Alm (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров микроструктуры твердых тел.
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих металлов и сплавов, композиционных и полимерных материалов, порошков, микрокристаллов, локального микрорентгеноспектрального анализа, определения параметров кристаллических решеток.
Для измерения количества и размеров частиц в суспензиях на основе минеральных или синтетических масел в соответствии с ГОСТ ИСО 4407-2006 "Определение загрязненности жидкости методом счета частиц под микроскопом". Область применения: контроль промышленной чистоты жидкостей, применяемых при изготовлении, эксплуатации и ремонте машин и приборов (рабочих жидкостей гидравлических систем привода и управления машин, приводов инструментов), технологических процессов и качества продукции в соответствии с ГОСТ 17216-2001 "Чистота промышленная. Классы чистоты жидкостей".
Для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах. Область применения - лаборатории предприятий и научно-исследовательских институтов.
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики и технологии микро и наноструктур, материаловедения.В 2010 г. изменено Описание типа (НТК 01д2 от 18.03.10 п.327) в части методики поверки.
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурныхматериалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.
Микроскопы видеоизмерительные консольные МЕТРОКЛИН ВИМ (далее - микроскопы) предназначены для контактных и бесконтактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
Микроскопы сканирующие электронные TESCAN (далее микроскопы) предназначены для измерений размеров, формы, ориентации и других параметров нано - и микроструктур поверхностей различных объектов.
Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (модификации JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.
Для измерения топографии поверхности, применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Сняты без замены. Письмо Укр.ЦСМ 7-13/29 ДСП от 20.01.86
Для измерения отклонений положения штрихов при сравнительных измерениях шкал
Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.